一种熔断器短时过载试验及测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及熔断器性能测试技术领域，具体为一种熔断器短时过载试验及测试装置。


背景技术：

2.小型熔断器是一种过流熔断保护元件，当电流大于额定电流数倍时，熔断器将迅速熔断开路，使设备得到及时保护。因熔断器的熔断开路是不可自动恢复的，当发生较短时电流过流时（属于一种短时波动），并不希望熔断器发生熔断开路动作，并且在长期的电流波动环境下，需要熔断器保持性能稳定，而内阻稳定是熔断器性能稳定的一个主要评价指标。因此，在评价熔断器的可靠性时，通常会对熔断器进行短时电流过载试验，并在短时过载试验之前测试熔断器的电阻值，做完短时过载试验后，经过冷却一段时间，再测试一次熔断器的阻值，这样就可得到熔断器的内阻的不可逆漂移变化值。这个变化值与熔断器内部的熔断体质量状态有很大关系，是识别熔断器可靠性的一个重要指标，在高等级熔断器的考核中，是一个必须完成的考核项目。
3.现有技术采用人工检测每个熔断器的内阻，记录每个熔断器的编号，然后进行短时过载试验，试验结束后，将熔断器进行冷却，然后由人工测试熔断器的内阻，将数据记录在前次测试数据的后面，最后再用电脑计算每个熔断器的阻值变化，这种方法效率较低，还容易出错。现有另一种方法，使用通用自动电阻测试设备采集一批熔断器的阻值得到平均值，然后进行过载试验，之后将熔断器冷却，再用通用自动电阻测试机测试该批熔断器的阻值得到平均值，比较两次测试的平均值，确定这一批熔断器的平均质量水平，这种方法效率较高，但无法发现个别阻值漂移太大的熔断器，只能对一批次的熔断器进行粗测，不符合高等级熔断器的考核要求。


技术实现要素：

4.针对传统熔断器测试无法同时满足效率高和测得每个熔断器的阻值变化这两个条件的问题，本实用新型提供了一种熔断器短时过载试验及测试装置，其测试效率高并且可以便于测得每个熔断器的阻值变化。
5.其技术方案是这样的：一种熔断器短时过载试验及测试装置，其包括测试工位、加电试验工位和冷却工位，其特征在于：其还包括存储盒，所述存储盒中均匀开设有存储槽，所述存储槽大于一个，所述存储槽用于放置熔断器；
6.所述测试工位包括测试台、测试机构，所述测试台用于承载所述存储盒，所述测试机构包括上下驱动机构一和测试探针卡，所述上下驱动机构一和所述测试探针卡连接，所述测试探针卡上均匀安装有测试探针，所述测试探针的位置与所述存储槽的位置相对应；
7.所述加电试验工位包括试验台、加电机构，所述试验台用于承载所述存储盒，所述加电机构包括上下驱动机构二和加电探针卡，所述上下驱动机构二和所述加电探针卡连接，所述加电探针卡上均匀安装有加电探针，所述加电探针的位置与所述存储槽的位置相
对应。
8.其进一步特征在于：
9.所述冷却工位包括排队冷却区，所述排队冷却区用于容纳大于一个的所述存储盒；
10.所述测试台和所述试验台上还分别安装有移动轨道，所述移动轨道一端位于所述测试探针卡/所述加电探针卡下方，所述移动轨道上设有定位基座，所述定位基座用于放置所述存储盒；
11.所述定位基座包括横向定位块一、横向定位块二、纵向定位块一和纵向定位块二，所述横向定位块一和所述横向定位块二之间的距离等于所述存储盒的长度，所述纵向定位块一和所述纵向定位块二之间的距离等于所述存储盒的宽度；
12.所述测试工位及所述试验工位分别设有读取装置，所述读取装置用于读取所述存储盒的信息；所述读取装置、所述测试机构和所述加电机构分别与控制器电控连接；
13.每个所述熔断器的一个电极的位置与两根所述测试探针的位置上下对应；每个所述熔断器的一个电极的位置与一根所述加电探针的位置上下对应；
14.当所述熔断器是贴片式封装熔断器时，所述存储槽呈与所述熔断器对应的方形，所述测试探针/所述加电探针分别位于所述存储槽的两端上方；
15.当所述熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线分别位于熔断器两端时，所述存储槽两端分别延伸形成引线槽，所述测试探针/所述加电探针分别位于两端的所述引线槽上方；
16.当所述熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线位于熔断器同一端时，所述存储槽一端延伸出两条平行的引线槽，所述测试探针/所述加电探针分别位于所述引线槽上方；
17.所述引线槽对应探针的位置设有探针槽，所述探针槽的尺寸与所述测试探针/所述加电探针的尺寸相对应。
18.采用了这样的结构后，在对熔断器进行测试或者加电试验时，采用探针卡的形式可以一次性对多个熔断器进行测试或者加电，提高了测试效率，同时将多个熔断器同时置于存储盒中，当第一次测试、加电完成并冷却后，再进入第二次测试，由于熔断器始终位于同一存储盒中并且位置不改变，方便将第一次测试结果和第二次测试结果进行对比，从而可以测得每个熔断器的阻值变化。
附图说明
19.图1为本实用新型结构示意图；
20.图2为贴片式封装熔断器测试示意图；
21.图3为两个引线位于熔断器同一端的轴向引线封装熔断器测试示意图；
22.图4为两个引线位于熔断器同一端的轴向引线封装熔断器测试示意图。
具体实施方式
23.如图1、图2所示的一种熔断器短时过载试验及测试装置，其包括测试工位1、加电试验工位2和冷却工位3，其还包括存储盒4，存储盒4中均匀开设有存储槽41，存储槽41大于一个，存储槽41用于放置熔断器5；
24.测试工位1包括测试台11、测试机构，测试台11用于承载存储盒4，测试机构包括上下驱动机构一12和测试探针卡13，上下驱动机构一12和测试探针卡13连接，通过上下驱动机构一12控制测试探针卡13下压，上下驱动机构一12可以采用气缸、电动缸等装置，测试探针卡13上均匀安装有测试探针14，测试探针14的位置与存储槽41的位置相对应；
25.加电试验工位2与测试工位1结构类似包括试验台21、加电机构，试验台21用于承载存储盒4，加电机构包括上下驱动机构二22和加电探针卡23，上下驱动机构二22和加电探针卡23连接，加电探针卡23上均匀安装有加电探针，加电探针的位置与存储槽41的位置相对应。
26.冷却工位3包括排队冷却区，排队冷却区用于容纳大于一个的存储盒4。
27.第一次测试时，通过控制探针卡使探针压在熔断器电极上将每个熔断器分别接到测试表上测得各个熔断器电阻值，依照存储盒盒号进行记录，测试完成后将该盒熔断器置入试验工位通过探针对熔断器加电，加电完成后置入冷却工位等待冷却，冷却后仍将该盒熔断器置入测试工位进行第二次测试，测试完成后，依照盒号及槽位对比测试结果，从而可以测得每个熔断器的阻值变化，各个工位之间可以依靠轨道进行转移也可以手动转移，整个测试、试验过程熔断器不取出，且一次能够测试试验一盒熔断器效率高。
28.另外，测试台11和试验台21上还分别安装有移动轨道6，移动轨道6一端位于测试探针卡13/加电探针卡23下方，移动轨道6上设有定位基座61，定位基座61用于放置存储盒4，这样只需要将存储盒放置在移动轨道6一端，就可以自动移动到探针卡下方去，避免手动摆放位置不精确。而定位基座61包括横向定位块一62、横向定位块二63、纵向定位块一64和纵向定位块二65，横向定位块一62和横向定位块二63之间的距离等于存储盒4的长度，纵向定位块一64和纵向定位块二65之间的距离等于存储盒4的宽度；这样就可以对存储盒进行限位。
29.同时，测试工位1及试验工位2分别设有读取装置例如读写器，读取装置用于读取存储盒的信息例如读取存储盒上的电子标签或者盒号等信息；读取装置、测试机构和加电机构分别与控制器电控连接，这样可以将测试或试验的数据记录在该盒号名下并可以通过控制器比较其前后的数据。而测试装置是一个由控制器（电脑）控制的自动多路测试装置，按读取的盒号自动由电脑控制测试并以盒号及熔断器在盒中所在的位号为名记录每个熔断器的阻值数据。
30.测试时，采用开尔文4线方式，每个熔断器的一个电极的位置与两根测试探针的位置上下对应，即两根测试探针压在一个电极上。试验时，每个熔断器的一个电极的位置与一根加电探针的位置上下对应。
31.当熔断器是贴片式封装熔断器时，如图2所示，存储槽呈与熔断器对应的方形，测试探针/加电探针分别位于存储槽的两端上方；当熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线分别位于熔断器两端时，如图3所示，存储槽41两端分别延伸形成引线槽42，测试探针/加电探针分别位于两端的引线槽42上方；当熔断器是轴向引线封装熔断器且两个引线位于熔断器同一端时，如图4所示，存储槽41一端延伸出两条平行的引线槽42，测试探针/加电探针分别位于引线槽42上方；引线槽42对应探针的位置设有探针槽43，探针槽43的尺寸与测试探针/加电探针的尺寸相对应，使得探针能够伸入引线槽42中压在引线上。
32.以上，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限
于此，任何熟悉该技术的人在本实用新型所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。