一种电子元件用检测装置及其使用方法与流程

1.本发明涉及电子元件检测技术领域，具体涉及一种电子元件用检测装置及其使用方法。


背景技术：

2.电子元件是组成电子产品的基础，常用的电子元件有：电阻、电容、电感、电位器、变压器等，电子元件在加工的过程中需要对其表面进行打磨，从而使得电子元件获得光亮、平整的表面。需要对电子元件的质量进行检验，以进行后续的封装输送流程。
3.现有技术中，对电子元件的合格品检测，多为半自动化，需要人工进行辨识以及分拣，检验分类步骤繁杂，劳动成本高，人力参与度高，人工误差大，工作效率低，导致其检验精度低，可靠度低。


技术实现要素：

4.为解决上述背景技术中提出的问题，本发明提供了一种电子元件用检测装置及其使用方法，可完成对电子元件的检验及产品分类需求，其检验精度高，可靠性强，自动化程度高，工作效率高，装置成本低。
5.第一方面，本发明提供一种电子元件用检测装置，包括：
6.光学检验区，光学检验区配置有检验采集模块，所述检验采集模块用于采集检测电子元件的图像数据；
7.吸嘴，用于定位吸附电子元件；
8.升降机，固定连接所述吸嘴，上下运动以驱动所述吸嘴吸附的电子元件通过所述光学检验区；
9.输送机，间歇输送电子元件到达所述光学检验区底部工序位；
10.计算机系统，用于对接所述检验采集模块关联电子元件的图像数据，并同预设标准图像进行比对。
11.优选地，所述检验采集模块包括发射部与接收部，所述发射部上设有光源，所述接收部上设有相机模组，所述光源与所述相机模组相向设置且处于同一水平高度，所述接收部上位于所述相机模组的周边设有遮光片。
12.其检验采集模块需独立设置稳定支撑架，避免装置运行产生的振动等干扰。
13.优选地，所述相机模组包括至少一个黑白相机以及至少一个彩色相机。
14.优选地，所述检测装置还包括工作台与顶板，所述输送机固定设置在所述工作台上端，所述顶板上滑动连接有移动座，所述升降机安装在所述移动座底部，所述光学检验区设置在所述工作台与所述顶板之间。
15.优选地，所述顶板设有滑动连接所述移动座的滑槽，所述滑槽上端安装有直线驱动器，所述直线驱动器传动连接所述移动座，所述直线驱动器的驱动方向与所述输送机的输送方向垂直设置，所述顶板上位于所述滑槽内设有通槽，所述升降机设置在所述通槽底
部。
16.优选地，所述滑槽内对称安装有缓冲器，所述缓冲器的受力端朝向所述移动座设置。
17.优选地，所述输送机包括第一输送线、第二输送线以及第三输送线，所述第一输送线输送待检验的电子元件，所述第二输送线与第三输送线进行电子元件检验之后的分拣输送，第一输送线、第二输送线以及第三输送线之间设有限位条。
18.优选地，所述输送机上设置有输送组件，所述输送组件包括两个同步运行设置的电机、传动连接两个所述电机的主动辊以及至少一个从动辊，所述从动辊的两端部固定连接有传动轮，同侧的所述传动轮之间连接有传动带，所述主动辊与所述从动辊传动连接所述第一输送线、第二输送线以及第三输送线。
19.优选地，所述第一输送线、第二输送线以及第三输送线为柔性输送线。
20.优选地，还包括运动控制器，所述运动控制器电性耦合连接所述升降机、输送机以及计算机系统。
21.第二方面，本发明提供一种电子元件用检测装置的使用方法，包括如下步骤；
22.s1：装置准备
23.s11：计算机系统调试，所有设备就位并正常工作；
24.s12：运动控制器初始化，吸嘴、升降机、直线驱动器归零复位；
25.s13：检验采集模块中光源与相机模组同步校准；
26.s14：输送机调频适配对电子元件的输送参数；
27.s2：电子元件的检测
28.s21：通过第一输送线间歇输送电子元件到达所述光学检验区底部工序位；
29.s22：升降机驱动吸嘴下移，吸嘴接触电子元件并吸附，升降机带动电子元件通过光学检验区；
30.s23：检验采集模块触发工作，光源输出定光束强度的光线，相机模组连续采集电子元件的图像数据，反馈至计算机系统；
31.s24：计算机系统将接收的关联电子元件的图像数据同预设标准图像进行比对，判断吸附的电子元件是否合格；
32.s3：电子元件的分拣
33.s31：根据电子元件的合格情况，通过直线驱动器带动移动座运行，升降机驱动吸嘴下移，吸嘴退出吸附电子元件，其后，升降机、直线驱动器复位进行重复操作；
34.s32：通过第二输送线或第三输送线转运合格电子元件或不合格电子元件，以进行后续处理。
35.本发明的有益效果为：
36.(1)：第一输送线输送电子元件，吸嘴吸附电子元件，升降机带动电子元件经过光学检验区，检验采集模块采集相关图像，计算机系统接收的关联电子元件的图像数据同预设标准图像进行比对，判断吸附的电子元件是否合格，后期装置进行电子元件的分拣，完成对电子元件的检验及产品分类，检验精度高，可靠性强，装置整体自动化程度高，工作效率高。
37.(2)：通过输送组件驱动三条输送线，驱动成本低，结构紧凑，且适配间歇的输送模
式。
附图说明
38.附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。
39.图1为本发明的结构示意图；
40.图2为本发明顶板处的俯视图；
41.图3为本发明输送机的结构示意图；
42.图4为本发明检验采集模块的结构示意图；
43.图5为本发明的工作原理图。
具体实施方式
44.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明的实施例作详细说明。
45.实施例1：
46.请参阅图1-图5，本实施例提供了提供一种电子元件用检测装置，包括：
47.光学检验区，光学检验区配置有检验采集模块9，检验采集模块9用于采集检测电子元件的图像数据；
48.吸嘴8，用于定位吸附电子元件；
49.升降机7，固定连接吸嘴8，上下运动以驱动吸嘴8吸附的电子元件通过光学检验区；
50.输送机3，间歇输送电子元件到达光学检验区底部工序位；
51.计算机系统，用于对接检验采集模块9关联电子元件的图像数据，并同预设标准图像进行比对。
52.进一步地，还包括运动控制器，运动控制器电性耦合连接升降机7、输送机3以及计算机系统。
53.进一步地，检验采集模块9包括发射部91与接收部92，发射部91上设有光源93，接收部92上设有相机模组94，光源93与相机模组94相向设置且处于同一水平高度，接收部92上位于相机模组94的周边设有遮光片95。
54.可选的，相机模组94包括至少一个黑白相机以及至少一个彩色相机，以采集可靠的图像，分析图像的灰度值，更好地判断电子元件的合格情况。
55.实施例2：
56.在实施例1的基础上，检测装置还包括工作台1与顶板2，输送机3固定设置在工作台1上端，顶板2上滑动连接有移动座5，升降机7安装在移动座5底部，光学检验区设置在工作台1与顶板2之间。
57.顶板2设有滑动连接移动座5的滑槽21，滑槽21上端安装有直线驱动器6，直线驱动器6传动连接移动座5，直线驱动器6的驱动方向与输送机3的输送方向垂直设置，顶板2上位于滑槽21内设有通槽23，升降机7设置在通槽23底部。
58.滑槽21内对称安装有缓冲器22，缓冲器22的受力端朝向移动座5设置。
59.实施例3：
60.在在实施例1的基础上，输送机3包括第一输送线31、第二输送线32以及第三输送线33，第一输送线31输送待检验的电子元件，第二输送线32与第三输送线33进行电子元件检验之后的分拣输送，第一输送线31、第二输送线32以及第三输送线33之间设有限位条34。
61.输送机3上设置有输送组件4，输送组件4包括两个同步运行设置的电机41、传动连接两个电机41的主动辊42以及至少一个从动辊43，从动辊43的两端部固定连接有传动轮45，同侧的传动轮45之间连接有传动带44，主动辊42与从动辊43传动连接第一输送线31、第二输送线32以及第三输送线33。
62.本发明提供一种电子元件用检测装置的使用方法及其工作原理包括如下步骤；
63.s1：装置准备
64.s11：计算机系统调试，所有设备就位并正常工作；
65.s12：运动控制器初始化，吸嘴8、升降机7、直线驱动器6归零复位；
66.s13：检验采集模块9中光源93与相机模组94同步校准；
67.s14：输送机3调频适配对电子元件的输送参数；
68.s2：电子元件的检测
69.s21：通过第一输送线31间歇输送电子元件到达光学检验区底部工序位；
70.s22：升降机7驱动吸嘴8下移，吸嘴8接触电子元件并吸附，升降机7带动电子元件通过光学检验区；
71.s23：检验采集模块9触发工作，光源93输出定光束强度的光线，相机模组94连续采集电子元件的图像数据，反馈至计算机系统；
72.s24：计算机系统将接收的关联电子元件的图像数据同预设标准图像进行比对，判断吸附的电子元件是否合格，检测可包括电子元件的平整度、表面粗糙度、缺陷等，计算机系统预设其合格产品的多个标准图像，以针对不同类型的电子元件进行产品检测；
73.s3：电子元件的分拣
74.s31：根据电子元件的合格情况，通过直线驱动器6带动移动座5运行，升降机7驱动吸嘴8下移，吸嘴8退出吸附电子元件，其后，升降机7、直线驱动器6复位进行重复操作；
75.s32：通过第二输送线32或第三输送线33转运合格电子元件或不合格电子元件，以进行后续处理。
76.上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化与改进。

技术特征：
1.一种电子元件用检测装置，其特征在于，包括：光学检验区，光学检验区配置有检验采集模块，所述检验采集模块用于采集检测电子元件的图像数据；吸嘴，用于定位吸附电子元件；升降机，固定连接所述吸嘴，上下运动以驱动所述吸嘴吸附的电子元件通过所述光学检验区；输送机，间歇输送电子元件到达所述光学检验区底部工序位；计算机系统，用于对接所述检验采集模块关联电子元件的图像数据，并同预设标准图像进行比对。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述检验采集模块包括发射部与接收部，所述发射部上设有光源，所述接收部上设有相机模组，所述光源与所述相机模组相向设置且处于同一水平高度，所述接收部上位于所述相机模组的周边设有遮光片。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述相机模组包括至少一个黑白相机以及至少一个彩色相机。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述检测装置还包括工作台与顶板，所述输送机固定设置在所述工作台上端，所述顶板上滑动连接有移动座，所述升降机安装在所述移动座底部，所述光学检验区设置在所述工作台与所述顶板之间。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于：所述顶板设有滑动连接所述移动座的滑槽，所述滑槽上端安装有直线驱动器，所述直线驱动器传动连接所述移动座，所述直线驱动器的驱动方向与所述输送机的输送方向垂直设置，所述顶板上位于所述滑槽内设有通槽，所述升降机设置在所述通槽底部。6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于：所述滑槽内对称安装有缓冲器，所述缓冲器的受力端朝向所述移动座设置。7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述输送机包括第一输送线、第二输送线以及第三输送线，所述第一输送线输送待检验的电子元件，所述第二输送线与第三输送线进行电子元件检验之后的分拣输送，第一输送线、第二输送线以及第三输送线之间设有限位条。8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于：所述输送机上设置有输送组件，所述输送组件包括两个同步运行设置的电机、传动连接两个所述电机的主动辊以及至少一个从动辊，所述从动辊的两端部固定连接有传动轮，同侧的所述传动轮之间连接有传动带，所述主动辊与所述从动辊传动连接所述第一输送线、第二输送线以及第三输送线。9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：还包括运动控制器，所述运动控制器电性耦合连接所述升降机、输送机以及计算机系统。10.一种电子元件用检测装置的使用方法，其特征在于：包括如下步骤；s1：装置准备s11：计算机系统调试，所有设备就位并正常工作；s12：运动控制器初始化，吸嘴、升降机、直线驱动器归零复位；s13：检验采集模块中光源与相机模组同步校准；s14：输送机调频适配对电子元件的输送参数；
s2：电子元件的检测s21：通过第一输送线间歇输送电子元件到达所述光学检验区底部工序位；s22：升降机驱动吸嘴下移，吸嘴接触电子元件并吸附，升降机带动电子元件通过光学检验区；s23：检验采集模块触发工作，光源输出定光束强度的光线，相机模组连续采集电子元件的图像数据，反馈至计算机系统；s24：计算机系统将接收的关联电子元件的图像数据同预设标准图像进行比对，判断吸附的电子元件是否合格；s3：电子元件的分拣s31：根据电子元件的合格情况，通过直线驱动器带动移动座运行，升降机驱动吸嘴下移，吸嘴退出吸附电子元件，其后，升降机、直线驱动器复位进行重复操作；s32：通过第二输送线或第三输送线转运合格电子元件或不合格电子元件，以进行后续处理。

技术总结
本发明涉及一种电子元件用检测装置及其使用方法，其检测装置包括光学检验区，光学检验区配置有检验采集模块，检验采集模块用于采集检测电子元件的图像数据；吸嘴，用于定位吸附电子元件；升降机，固定连接吸嘴，上下运动以驱动吸嘴吸附的电子元件通过光学检验区；输送机，间歇输送电子元件到达光学检验区底部工序位；计算机系统，用于对接检验采集模块关联电子元件的图像数据，并同预设标准图像进行比对。本发明可完成对电子元件的检验及产品分类需求，其检验精度高，可靠性强，自动化程度高，工作效率高，装置成本低。装置成本低。装置成本低。


技术研发人员：寇振业
受保护的技术使用者：江苏志达电子材料有限公司
技术研发日：2021.11.26
技术公布日：2022/3/8