一种双光源检测识别方法及系统与流程

1.本发明属于成像光谱技术领域，尤其涉及一种双光源检测识别方法及系统。


背景技术：

2.随着人们的环保意识逐渐增强，垃圾分类已然成为保护环境的一个重要行 径。但由于垃圾的类型繁多，单靠人工手动对垃圾进行分类不仅效率低下。因 而，安全高效地对垃圾分类成为保护环境的重要一步。
3.目前，市面上具有通过获取垃圾光谱图像进行分类的方法，采集垃圾光谱 数据时，检测不透明物体材质的时候用的反射光路，光源和光谱仪在物体的同 侧；在检测透明物体材质的时候，由于大部分的光都透过透明物体，只有极少 的光反射进入到光谱仪，通过透射的光路，很难检测透明的物体，故需将物体 用的透射光路，光源与光谱仪分别设置在物体的两侧；由于垃圾类型繁多，透 明物体与非透明物体通常会共同出现，检测识别透明与不透明物体的时候，需 要不断变更光路的搭建方式，导致检测过程繁琐，极大地降低了检测的效率与 智能化。因而，实有必要设计一种双光源检测识别方法及系统。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种双光源检测识别方法及系统，旨在解决现有技 术中检测物体同时存在透明和非透明材质时，需要不断变更光路的搭建，导致 检测效率和智能化降低的技术问题。
5.为实现上述目的，本发明实施例提供一种双光源检测识别方法，包括第一 光源和第二光源，所述方法包括：
6.将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动 待检测物体至检测台中央；
7.同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；
8.通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一光源照射待检 测物体的反射光，输入至光谱仪中；
9.若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射， 采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中；
10.根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。
11.可选地，根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述 根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息的步骤，具体包 括：
12.结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数 据；
13.根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析 比对，生成待检测物体的材质信息。
14.可选地，所述结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检 测物体光谱数据的步骤，具体包括：
15.若所述待检测物体为非透明物体，则根据所述第一光源照射待检测物体后 的反射光谱，生成待检测物体光谱数据；
16.若所述待检测物体为透明物体，则结合所述第一光源进待检测物体后的反 射光和所述第二光源穿过带检测物体后的透射光，生成待检测物体光谱数据。
17.可选地，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习 模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：
18.获取待检测物体光谱数据，提取待检测物体光谱数据对应的待检测物体特 征向量；
19.将待检测物体特征向量与预设的材质光谱数据进行对比，匹配与待检测物 体特征向量相对应的材质光谱数据，生成待检测物体的材质信息。
20.可选地，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习 模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，还包括：
21.获取待检测物体光谱数据，将所述待检测物体光谱数据输入至光谱分析机 器学习模型，
22.根据所述光谱分析机器学习模型，生成光谱分析结果。
23.可选地，所述通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一 光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中的步骤，具体包括：
24.通过第一输入光路对第一光源采集光线，光线通过第一输入光路形成第一 入射光照射在待检测物体上，生成反射光；
25.通过输出光路采集反射光，输入至光谱仪。
26.可选地，所述若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背 面进行照射，采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪 中的步骤，具体包括：
27.通过第二输入光路对第二光源采集光线，光线通过第二输入光路形成第二 入射光并穿透待检测物体，生成透射光；
28.通过输出光路采集透射光，输入至光谱仪。
29.可选地，所述同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射的步骤 之前，具体包括：
30.将第一输入光路的输入端与第一光源连接，用于采集第一光源的光线，设 置第一输入光路的输出端在检测台的一侧，输出光线至待检测物体的表面；
31.将第二输入光路的输入端与第二光源连接，采集第二光源的光线，设置第 二输入光路的输出端在检测台的另一侧，输出光线至待检测物体的背面。
32.可选地，所述通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一 光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中的步骤之前，具体包括：
33.将光谱仪设置于所述第一光源的同侧；
34.连接输出光路与光谱仪，输入光线至光谱仪；
35.将输出光路的输入端设置于检测台的焦点位置处，采集透射光或反射光。
36.本发明还提供一种双光源检测识别系统，包括第一光源、第二光源、光谱 仪和工控机；其中，所述工控机和第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设 置在检测台的另一
侧，移动待检测物体至检测台中央；所述第一光源和所述第 二光源用于对待检测物体进行照射；所述光谱仪用于采集通过第一光源对待检 测物体的表面进行照射待检测物体的反射光；若待检测物体为透明物体，所述 光谱仪还用于采集第二光源对待检测物体的背面进行照射的透射光；所述工控 机根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。
37.本发明实施例提供的双光源检测识别方法中的上述一个或多个技术方案至 少具有如下技术效果之一：
38.通过将第一光源和第二光源分别设置在检测台的两侧，使第一光源照射待 检测物体表面时，第二光源能照射待检测物体的背面，使待检测物体为非透明 物体时，光谱仪采集第一光源经待检测物体后的反射光，进而检测识别待检测 物体；当待检测物体为透明物体时，光谱仪采集第一光源经待检测物体后的反 射光，同时采集第二光源穿过所述待检测物体后的透射光，增加了光谱仪接收 信号的强度，进而检测识别待检测物体，用户无需反复调节光路的搭建方式， 使系统可以同时检测识别透明和非透明物体，为用户在检测识别时带来极大地 便利。
附图说明
39.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技 术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅 仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳 动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
40.图1为本发明实施例提供的一种双光源检测识别方法的流程示意图；
41.图2为本发明实施例提供的第一输入光路和第二输入光路设置的流程示意 图；
42.图3为本发明实施例提供的光谱仪设置的流程示意图；
43.图4为本发明实施例提供的第一光源光线采集的流程示意图；
44.图5为本发明实施例提供的第二光源光线采集的流程示意图；
45.图6为本发明实施例提供的材质信息生成的流程示意图；
46.图7为本发明实施例提供的光谱数据生成的流程示意图；
47.图8为本发明实施例提供的材质信息比对的流程示意图；
48.图9为本发明实施例提供的机器学习分析的流程示意图。
49.图10为本发明实施例提供的一种双光源检测识别系统的连接结构示意框 图。
具体实施方式
50.以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术 之类的具体细节，以便透彻理解本技术实施例。然而，本领域的技术人员应当 清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本技术。在其它情况中， 省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节 妨碍本技术的描述。
51.应当理解，当在本技术说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括
”ꢀ
指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个 或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
52.还应当理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是 指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这 些组合。
53.如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以 依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。 类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下 文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或 事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0054]
另外，在本技术说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第 二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0055]
在本技术说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着 在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特 点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一 些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必 然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除 非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的 变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
[0056]
在本发明的一个实施例中，如图1和图9所示，提供一种双光源检测识别 方法，包括第一光源和第二光源，所述方法包括：
[0057]
步骤s100：将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另 一侧，移动待检测物体至检测台中央；
[0058]
步骤s200：同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；
[0059]
步骤s300：通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，由输出光路采集 所述第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中；
[0060]
步骤s400：若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面 进行照射通过输出光路采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入 至光谱仪中；
[0061]
步骤s500：根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。
[0062]
通过将第一光源和第二光源分别设置在检测台的两侧，使第一光源照射待 检测物体表面时，第二光源能照射待检测物体的背面，使待检测物体为非透明 物体时，光谱仪采集第一光源经待检测物体后的反射光，进而检测识别待检测 物体；当待检测物体为透明物体时，光谱仪采集第一光源经待检测物体后的反 射光，同时采集第二光源穿过所述待检测物体后的透射光，增加了光谱仪接收 信号的强度，进而检测识别待检测物体，用户无需反复调节光路的搭建方式， 使系统可以同时检测识别透明和非透明物体，为用户在检测识别时带来极大地 便利。
[0063]
在本发明的另一个实施例中，如图6所示，所述根据材质光谱数据与所述 待检测物体光谱数据比对，获取待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：
[0064]
步骤s510：结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测 物体光谱数据。
[0065]
步骤s520：根据待检测物体光谱数据，通过材质标准光谱数据或机器学习 模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息。
[0066]
具体地，在本步骤中，通过结合所述第一光源的反射光和所述第二光源的 透射
光，获取光谱数据。若无采集到第二光源的透射光，则表明该待检测物体 为非透明物体，所述第二光源无法穿透，因为物体不透明，通过对反射回来的 光进行分析，此时所述第一光源的反射光的信号强度足够强，就可以得到待测 物体光谱数据，进而通过待检测物体光谱数据与预设的材质光谱数据进行比对， 由此生成待检测物体的材质信息。
[0067]
在本发明的另一个实施例中，如图7所示，所述根据所述第一光源的反射 光或第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数据的步骤，具体包括：
[0068]
步骤s511：若所述待检测物体为非透明物体，则根据所述第一光源照射待 检测物体后的反射光谱，生成待检测物体光谱数据；
[0069]
具体地，在本步骤中，当待检测物体在检测台时，所述第一光源和所述第 二光源同时工作，若待检测物体为非透明物体，所述第一光源的光不会发生透 射，以反射光的形式输入至光谱仪中，则此时根据第一光源的反射光即可生成 待检测物体的光谱数据。
[0070]
步骤s512：若所述待检测物体为透明物体，则结合所述第一光源进待检测 物体后的反射光和所述第二光源穿过带检测物体后的透射光，生成待检测物体 光谱数据。
[0071]
具体地，在本步骤中若待检测物体为透明物体，所述第一光源的光大部分 发生透射，少部分光发生反射，由于所述第一光源与所述光谱仪设置在同一侧， 故此时单考第一光源无法获取完整的光谱数据，故通过将所述第二光源设置在 光谱仪的另一侧，所述第二光源的光大部分经过透射穿过待检测物体，以透射 光的形式输入至所述光谱仪中，由此，结合所述第一光源的部分反射光与所述 第二光源的透射光，生成待检测物体的光谱数据。
[0072]
在本发明的另一个实施例中，如图8所示，所述通过所述待检测物体光谱 数据与预设的材质光谱数据比对，生成待检测物体的材质信息，具体包括：
[0073]
步骤521：获取待检测物体光谱数据，提取待检测物体光谱数据对应的待检 测物体特征向量；
[0074]
步骤522：将待检测物体特征向量与预设的材质光谱数据进行对比，匹配与 待检测物体特征向量相对应的材质光谱数据，生成待检测物体的材质信息。
[0075]
具体地，在本步骤中，预先将材质光谱数据输入至工控机中，通过工控机 根据待检测物体的光谱数据、提取特征向量，由此与预设于工控机的材质光谱 数据进行比对，由此得到待检测物体所属的种类，完成待检测物体的分类。
[0076]
可选地，在本步骤中，还可根据所述待测光谱数据生成云端发送指令，根 据所述云端发送指令将所述待检测物体光谱数据从当前数据存储端发送至云 端，并在云端在将待检测物体光谱数据与云端预存的标准光谱数据作比对，在 比对完成后生成光谱分析结果，完成待检测物体的分类。
[0077]
在本发明的另一个实施例中，如图9所示，所述通过所述待检测物体光谱 数据与预设的材质光谱数据比对，生成待检测物体的材质信息，还包括：
[0078]
步骤523：获取待检测物体光谱数据，将所述待检测物体光谱数据输入至光 谱分析机器学习模型，
[0079]
步骤524：根据所述光谱分析机器学习模型，生成光谱分析结果。
[0080]
具体地，在本步骤中，通过获取待检测物体光谱数据，将待检测物体数据 输入至预设的光谱分析机器学习模型，并生成光谱分析结果，可以采用机器学 习的方法，先根据预存的光谱库生成一个光谱分析机器学习模型，然后可以根 据待检测物体光谱数据，直接
输出预测的结果，提升结果生成的效率。
[0081]
可选地，本实施例中，还可根据所述待测光谱数据生成云端发送指令，根 据所述云端发送指令将所述待检测物体光谱数据从当前数据存储端发送至云 端，根据云端的光谱库生成光谱分析机器学习模型，将待检测物体数据输入至 云端的光谱分析机器学习模型中，根据待检测物体光谱数据，直接输出预测的 结果，并获取云端发送的光谱分析结果，得到待检测物体所属的种类。
[0082]
进一步地，所述根据材质光谱数据与所述待检测物体光谱数据比对，获取 待检测物体光的材质信息的步骤之前，包括：
[0083]
预先获取材质光谱数据，存储于本地材质光谱数据库中。
[0084]
预先建立光谱分析机器学习模型，存储于工控机中。
[0085]
具体地，在本步骤中，通过工控机在进行光谱数据比对之前，将材质光谱 数据从材质数据库中下载并输入至工控机，在工控机中预先建立光谱分析机器 学习模型，使工控机可以在离线状态下进行光谱数据的比对，提高比对效率。
[0086]
在本发明的另一个实施例中，如图4所示，所述通过第一光源对待检测物 体的表面进行照射，由输出光路采集所述第一光源照射待检测物体的反射光， 输入至光谱仪中的步骤，具体包括：
[0087]
步骤s310：通过第一输入光路对第一光源采集光线，光线通过第一输入光 路形成第一入射光照射在待检测物体上，生成反射光；
[0088]
步骤s320：通过输出光路采集反射光，输入至光谱仪。
[0089]
具体地，在本步骤中，所述第一输入光路为优选为第一输入光纤，所述输 出光路优选为输出光纤，所述第一输入光纤的通过一光纤探头与所述第一光源 连接，将第一光源的光信号经所述第一输入光纤照射在待检测物体上，形成反 射光射入至所述输出光纤中，进而输入至所述光谱仪生成光谱数据。
[0090]
在本发明的另一个实施例中，如图5所示，所述若待检测物体为透明物体， 通过第二光源对待检测物体的背面进行照射通过输出光纤采集所述第二光源照 射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中的步骤，具体包括：
[0091]
步骤s410：通过第二输入光路采集第二光源采集光线，光线通过第二输入 光路形成第二入射光并穿透待检测物体，生成透射光；
[0092]
步骤s420：通过输出光路采集透射光，输入至光谱仪。
[0093]
具体地，在本步骤中，所述第二输入光路优选为第二输入光纤，所述第二 输入光纤的通过一另光纤探头与所述第二光源连接，将第二光源的光信号经所 述第二输入光纤照射在待检测物体上，形成透射光射入至所述输出光纤中，进 而输入至所述光谱仪生成光谱数据。
[0094]
在本发明的另一个实施例中，如图2所示，所述同时启动第一光源和第二 光源对待检测物体进行照射的步骤之前，具体包括：
[0095]
步骤s210：将第一输入光路的输入端与第一光源连接，采集第一光源的光 线，设置第一输入光路的输出端在检测台的一侧，输出光线至待检测物体的表 面。
[0096]
步骤s220：将第二输入光路的输入端与第二光源连接，采集第二光源的光 线，设置第二输入光路的输出端在检测台的另一侧，输出光线至待检测物体的 背面。
[0097]
具体地，在本步骤中，通过将第一输入光路的输入端设置在第一光源，将 第二输入光路采集第二光源，且第一输入光路的输出端用于照射待检测物体的 表面，第二输入光路的输出端用于照射待检测物体的背面，当用户通过工控机 同时开启所述第一光源和第二光源时，可以使第一光源通过所述第一输入光路 照射所述待检测物体的表面产生反射光或透射光，使第二光源通过所述第二输 入光路照射所述待检测物体的背面产生反射光或透射光。
[0098]
在本发明的另一个实施例中，如图3所示，所述通过第一光源对待检测物 体的表面进行照射，由输出光路采集所述第一光源照射待检测物体的反射光， 输入至光谱仪中的步骤之前，具体包括：
[0099]
步骤s301：将光谱仪设置于所述第一光源的同侧；
[0100]
步骤s302：将输出光路的输出端与光谱仪连接，输入光线至光谱仪；
[0101]
步骤s303：将输出光路的输入端设置于检测台的焦点位置处，采集透射光 或反射光。
[0102]
具体地，在本步骤中，通过将光谱仪设置在第一光源的同侧，即设置在第 二光源的异侧，使用户无需重新搭建光路，就可以使光谱仪通过输出光路同时 采集所述第一光源的反射光和所述第二光源的透射光，并由输出光路将反射光 和透射光传输至光谱仪中，从而获取待检测物体的光谱数据，极大地节约了来 回更换光路的过程，为用户带来极大的便利。
[0103]
本发明还提供一种双光源检测识别系统，如图9所示，包括第一光源、第 二光源、光谱仪和工控机。
[0104]
其中，所述工控机和第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测 台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；所述第一光源和所述第二光源用 于对待检测物体进行照射；所述光谱仪用于采集通过第一光源对待检测物体的 表面进行照射待检测物体的反射光；若待检测物体为透明物体，所述光谱仪还 用于采集第二光源对待检测物体的背面进行照射的透射光；所述工控机根据材 质光谱数据与所述待检测物体光谱数据比对，获取待检测物体光的材质信息。 具体地，所述工控机为所述双光源检测识别系统的主控单元，用于控制所述第 一光源和所述第二光源的照射，还用于进行待检测物体的检测与识别。
[0105]
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发 明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明 的保护范围之内。

技术特征：
1.一种双光源检测识别方法，其特征在于，包括第一光源和第二光源，所述方法包括：将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中；若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射，采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中；根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。2.根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数据；根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息。3.根据权利要求2所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数据的步骤，具体包括：若所述待检测物体为非透明物体，则根据所述第一光源照射待检测物体后的反射光谱，生成待检测物体光谱数据；若所述待检测物体为透明物体，则结合所述第一光源进待检测物体后的反射光和所述第二光源穿过带检测物体后的透射光，生成待检测物体光谱数据。4.根据权利要求3所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：获取待检测物体光谱数据，提取待检测物体光谱数据对应的待检测物体特征向量；将待检测物体特征向量与预设的材质光谱数据进行对比，匹配与待检测物体特征向量相对应的材质光谱数据，生成待检测物体的材质信息。5.根据权利要求3所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，还包括：获取待检测物体光谱数据，将所述待检测物体光谱数据输入至光谱分析机器学习模型，根据所述光谱分析机器学习模型，生成光谱分析结果。6.根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中的步骤，具体包括：通过第一输入光路对第一光源采集光线，光线通过第一输入光路形成第一入射光照射在待检测物体上，生成反射光；通过输出光路采集反射光，输入至光谱仪。7.根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述若待检测物体为透明
物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射，采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中的步骤，具体包括：通过第二输入光路对第二光源采集光线，光线通过第二输入光路形成第二入射光并穿透待检测物体，生成透射光；通过输出光路采集透射光，输入至光谱仪。8.根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射的步骤之前，具体包括：将第一输入光路的输入端与第一光源连接，用于采集第一光源的光线，设置第一输入光路的输出端在检测台的一侧，输出光线至待检测物体的表面；将第二输入光路的输入端与第二光源连接，采集第二光源的光线，设置第二输入光路的输出端在检测台的另一侧，输出光线至待检测物体的背面。9.根据权利要求5所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中的步骤之前，具体包括：将光谱仪设置于所述第一光源的同侧；连接输出光路与光谱仪，输入光线至光谱仪；将输出光路的输入端设置于检测台的焦点位置处，采集透射光或反射光。10.一种双光源检测识别系统，其特征在于，包括第一光源、第二光源、光谱仪和工控机；其中，所述工控机和第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；所述第一光源和所述第二光源用于对待检测物体进行照射；所述光谱仪用于采集通过第一光源对待检测物体的表面进行照射待检测物体的反射光；若待检测物体为透明物体，所述光谱仪还用于采集第二光源对待检测物体的背面进行照射的透射光；所述工控机根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。

技术总结
本发明属于成像光谱技术领域，尤其涉及一种双光源检测识别方法，包括第一光源和第二光源，所述方法包括：将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，由输出光路采集第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中；若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射通过输出光路采集第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中；根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息，用户无需反复调节光路的搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。


技术研发人员：莫卓亚 刘元路 杨日伦
受保护的技术使用者：广东弓叶科技有限公司
技术研发日：2021.08.31
技术公布日：2022/3/8