一种紧缩场多路径杂波分析方法和装置与流程

1.本发明涉及电磁特性技术领域，尤其涉及一种紧缩场多路径杂波分析方法和装置。


背景技术：

2.雷达散射截面(radar cross section，rcs)作为一个重要的指标越来越受到人们的重视，目前主流rcs测试场主要分为微波紧缩场暗室和室外测试场地。二者区别在于，前者利用紧缩场技术实现rcs测试的远场条件，利用屏蔽壳体和吸波材料以保证测试区域的纯净，而后者则是利用广阔的测试场地和干净的测试环境来保证测试效果。测试区域又称为“静区”，静区性能是衡量测试场能力的重要参数，也是紧缩场反射面设计的核心指标。因此传统的紧缩场暗室设计时往往将辐射源放置在馈源位置，将观测点设置在静区位置，以此监控静区性能。但是这种分析方法难以应对诸如目标与反射面、目标与馈源等非主要路径引起的杂波，也即多路径杂波。


技术实现要素：

3.针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种紧缩场多路径杂波分析方法和装置，能够准确判别紧缩场暗室内可能的杂波路径。
4.为了解决上述技术问题，在一个方面，本发明实施例提供了一种紧缩场多路径杂波分析方法。
5.本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析方法包括：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。
6.可选地，所述将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置，包括：导入紧缩场模型，在所述紧缩场模型中确定所述馈源位置和所述静区的范围；基于所述馈源位置和所述静区的范围设置所述辐射源和所述观测点。
7.可选地，所述利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，包括：针对所述静区的范围分别设置x、y、z方向的仿真步进，依据所述仿真步进执行所述遍历。
8.可选地，所述方法进一步包括：在确定所述回波路径中的杂波路径之后，在每一杂波路径放置阻隔装置以削弱或消除该杂波路径的杂波。
9.可选地，所述阻隔装置为模块化、可拆卸的吸波屏风；所述阻隔装置包括：多层金属骨架和粘贴在每一层金属骨架两侧的尖锥型吸波材料。
10.可选地，所述阻隔装置进一步包括：处于底部的可移动平板；在所述阻隔装置中，相邻的金属骨架通过专用接口拼接，多个金属骨架通过逐层拼接可达到预设高度。
11.可选地，所述紧缩场为反射面型紧缩场，所述紧缩场中还设置有主反射面和副反射面，所述回波路径经过所述主反射面和所述副反射面的反射。
12.为了解决上述技术问题，在另一方面，本发明实施例提供了一种紧缩场多路径杂波分析装置。
13.本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析装置可以包括：布置单元，用于：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；路径获取单元，用于：利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；仿真单元，用于：对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。
14.为实现上述目的，根据本发明的又一方面，提供了一种电子设备。
15.本发明的一种电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明所提供的紧缩场多路径杂波分析方法。
16.为实现上述目的，根据本发明的再一方面，提供了一种计算机可读存储介质。
17.本发明的一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现本发明所提供的紧缩场多路径杂波分析方法。
18.实施本发明的紧缩场多路径杂波分析方法和装置，具有以下有益效果：首先，基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；接着，利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；最后，对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。这样，针对紧缩场暗室内可能发生的多路径杂波问题，本发明利用射线弹跳法，将辐射源设置在静区内而不是馈源位置，将观测点设置馈源处以获取可以到达馈源位置的可能的路径分布，并通过遍历静区空间内各个位置，获取全静区可能产生的多路径杂波，最后针对每一杂波路径使用可拆卸吸波屏风进行杂波消除。
附图说明
19.图1是本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析方法的主要步骤示意图；
20.图2是本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析方法的环境示意图；
21.图3是本发明实施例的阻隔装置的结构示意图；
22.图4是本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析装置的组成部分示意图；
23.图5是用来实现本发明实施例中紧缩场多路径杂波分析方法的电子设备结构示意图。
24.附图标记说明：
25.10：阻隔装置；11：金属骨架；12：尖锥型吸波材料；13：可移动平板；14：专用接口。
具体实施方式
26.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例
中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
27.图1是根据本发明实施例中紧缩场多路径杂波分析方法的主要步骤示意图。
28.如图1所示，本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析方法可具体按照如下步骤执行：
29.步骤s101：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置。
30.本步骤所使用的射线弹跳算法是电磁计算中的已知算法。在本发明实施例中，所述紧缩场为反射面型紧缩场，所述紧缩场中还设置有主反射面和副反射面。在本步骤中，可以基于该算法进行辐射源和观测点的放置，即将辐射源设置在紧缩场的静区位置，由此能够遍历静区空间内的各个位置；将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置，由此能够获取全静区可能产生的多路径杂波。
31.实际应用中，实现以上放置的具体执行步骤为：导入紧缩场模型，在所述紧缩场模型中确定所述馈源位置和所述静区的范围；基于所述馈源位置和所述静区的范围设置所述辐射源和所述观测点。
32.步骤s102：利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径。
33.在本步骤中，所述回波路径可以包括正常的工作路径和杂波路径。实际应用中，可以首先针对所述静区的范围分别设置x、y、z方向(即三维直角坐标系中的三个方向)的仿真步进，此后依据所述仿真步进执行所述遍历。由于将辐射源设置在静区，将观测点设置在馈源位置，从而能够在观测点获取从静区任何位置到达馈源的回波路径，从而实现任意静区内目标的回波路径模拟。可以理解，所述回波路径经过所述主反射面和所述副反射面的反射。
34.步骤s103：对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。
35.在本步骤中，可以依据已知的仿真技术对观测点获取到的每一回波路径执行仿真分析，从而识别出回波路径中的工作路径和杂波路径。
36.图2是本发明实施例的紧缩场多路径杂波分析方法的环境示意图，如图2所示，处在静区内的目标2的多种回波路径进入处于馈源1位置的观测点，以上回波路径经过主反射面4和副反射面3。在图2中，只有实线示出的路径2——4——3——1为正常路径，其余路径都是杂波路径。
37.在确定所述回波路径中的杂波路径之后，应当优先对紧缩场的焦距、尺寸、边角等细节进行优化处理以实现对多路径杂波的根本抑制，在此基础上，可以在每一杂波路径放置阻隔装置以削弱或消除该杂波路径的杂波。
38.图3是本发明实施例的阻隔装置的结构示意图，如图3所示，所述阻隔装置10为模块化、可拆卸的吸波屏风；所述阻隔装置10可以包括：多层金属骨架11、粘贴在每一层金属骨架11两侧的尖锥型吸波材料12以及处于底部的可移动平板13；在所述阻隔装置10中，相
邻的金属骨架11通过专用接口14拼接，多个金属骨架11通过逐层拼接可达到预设高度。通过以上设置，即可根据获取的准确多杂波路径进行杂波阻隔，以提高紧缩场测试效果。
39.以下说明本发明的一个具体实施例。
40.由于rcs测试要求电磁波照射满足远场条件，因此目前主流rcs测试场主要分为紧缩场微波暗室和室外测试场地。在紧缩场暗室内，需要设计紧缩场反射面对馈源辐射的电磁波进行准直以满足远场条件，紧缩场反射面设计过程中往往以静区性能为主要指标对整体环境电磁场分布进行分析，但由于实际中被测目标类型、尺寸差异很大，常规分析方法难以对目标和紧缩场反射面间的多路径杂波进行分析。本发明基于射线弹跳法快速计算的特点，由目标区为计算起点逆向分析，解决了紧缩场暗室内目标和反射面、馈源间多路径杂波分析的问题，并提出了具体的抑制方法。
41.反射面型紧缩场的工作原理是将馈源辐射的球面波经过反射面后形成平面波前，以双反射面紧缩场为例，如图2所示，静区内目标回波可能产生多种路径。图2中1为馈源，2为静区内的测试目标，3为副反射面，4为主反射面。紧缩场工作中，目标反射回波的所有路径中仅有2
→4→3→
1为正常的工作路径，其余均为多路径杂波。传统的反射面仿真中，一般计算的是馈源辐射出电磁波到达静区这一过程，通过分析静区性能确定紧缩场设计效果，缺乏对于发射路径的仿真分析。
42.在本实施例中，首先，基于射线弹跳算法，将辐射源设置在静区位置，将观测点设置在馈源位置。
43.对于实际的紧缩场暗室测试中，测试目标尺寸受限于静区尺寸，但是由于目标种类繁多，各种方位或姿态角下对于入射波的反射状况各不相同，对电磁波完整的辐射和反射过程进行仿真也更困难。更换思路将反射过程转化为单纯的辐射过程。在已经确定的紧缩场反射面模型中，将辐射源(即射线初始位置)设立在静区内，将观测点(即射线终点)设置在馈源位置(图2中1的位置)。这样可以计算获得在某一位置辐射出的全部射线是否有、有多少可以通过照射、反射进入到馈源位置。可以模拟出当目标处在静区内，对入射波进行发射时，除有效主路径外是否会引入新的多路径杂波。
44.接着，通过辐射源遍历静区内各个位置，以此模拟不同目标测试时所可能产生的所有回波路径，实现对全路径的仿真分析。
45.为实现对各种不同目标反射波状况的模拟，在本发明的解决框架内，就需要对辐射源在静区内各个位置时观测点在馈源位置可能接收到的全部路径进行仿真遍历，可以依次对仿真分析的目标、尺度范围、步进精度进行设置，以获取符合需求的多路径结果。
46.此后，对于目标与紧缩场间的多路径杂波，采用贴敷有吸波尖锥材料的可拆卸屏风(即阻隔装置)予以阻隔，达到削弱或消除多路径杂波的目的。
47.当在紧缩场内发现多路径杂波时，应当优先对紧缩场的焦距、尺寸、边角等细节进行优化处理以实现对多路径杂波的根本抑制。在实际工程中，对于已经加工完成的紧缩场设施，则可以采用遮挡阻隔的方式对产生杂波的路径予以阻断。
48.阻隔装置每层均由尖锥型吸波材料在金属骨架两侧侧面进行粘贴。每层金属骨架上设有接口，可以逐层拼接到想要的高度。在最底层加装可移动平板，屏风整体可实现灵活移动。将屏风垂直于杂波路径之中，可对该路径上的杂波予以有效抑制。
49.综上所述，在本发明实施例的技术方案中，提出一种可用于紧缩场微波暗室内对
紧缩场的多路径杂波进行研究的分析方法，并设计一种易于实现的杂波抑制装置(即阻隔装置)，能够实现对紧缩场多路径杂波的有效分析及抑制，为高精度rcs测试提供条件。
50.需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了便于描述，将其表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，某些步骤事实上可以采用其它顺序进行或者同时进行。此外，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是实现本发明所必须的。
51.为便于更好的实施本发明实施例的上述方案，下面还提供用于实施上述方案的相关装置。
52.请参阅图4所示，本发明实施例提供的紧缩场多路径杂波分析装置400可以包括：布置单元401、路径获取单元402和仿真单元403。
53.其中，布置单元401可用于：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；路径获取单元402可用于：利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；仿真单元403可用于：对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。
54.在本发明实施例中，布置单元401可进一步用于：导入紧缩场模型，在所述紧缩场模型中确定所述馈源位置和所述静区的范围；基于所述馈源位置和所述静区的范围设置所述辐射源和所述观测点。
55.作为一个优选方案，路径获取单元402可进一步用于：针对所述静区的范围分别设置x、y、z方向的仿真步进，依据所述仿真步进执行所述遍历。
56.较佳地，所述装置可进一步包括：杂波抑制单元，用于：在确定所述回波路径中的杂波路径之后，在每一杂波路径放置阻隔装置以削弱或消除该杂波路径的杂波。
57.此外，在本发明实施例中，所述紧缩场为反射面型紧缩场，所述紧缩场中还设置有主反射面和副反射面，所述回波路径经过所述主反射面和所述副反射面的反射。
58.在本发明实施例的技术方案中，针对紧缩场暗室内可能发生的多路径杂波问题，利用射线弹跳法将辐射源设置在静区内而不是馈源位置，将观测点设置馈源处以获取可以到达馈源位置的可能的路径分布，并通过遍历静区空间内各个位置，获取全静区可能产生的多路径杂波，最后针对每一杂波路径使用可拆卸吸波屏风进行杂波消除。
59.本发明还提供了一种电子设备。本发明实施例的电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明所提供的紧缩场多路径杂波分析方法。
60.下面参考图5，其示出了适于用来实现本发明实施例的电子设备的计算机系统500的结构示意图。图5示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
61.如图5所示，计算机系统500包括中央处理单元(cpu)501，其可以根据存储在只读存储器(rom)502中的程序或者从存储部分508加载到随机访问存储器(ram)503中的程序而执行各种适当的动作和处理。在ram503中，还存储有计算机系统500操作所需的各种程序和
数据。cpu501、rom 502以及ram 503通过总线504彼此相连。输入/输出(i/o)接口505也连接至总线504。
62.以下部件连接至i/o接口505：包括键盘、鼠标等的输入部分506；包括诸如阴极射线管(crt)、液晶显示器(lcd)等以及扬声器等的输出部分507；包括硬盘等的存储部分508；以及包括诸如lan卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分509。通信部分509经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器510也根据需要连接至i/o接口505。可拆卸介质511，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器510上，以便从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分508。
63.特别地，根据本发明公开的实施例，上文的主要步骤图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本发明实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行主要步骤图所示的方法的程序代码。在上述实施例中，该计算机程序可以通过通信部分509从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质511被安装。在该计算机程序被中央处理单元501执行时，执行本发明的系统中限定的上述功能。
64.需要说明的是，本发明所示的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。在本发明中，计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。
65.附图中的流程图和框图，图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这根据所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
66.描述于本发明实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬
件的方式来实现。所描述的单元也可以设置在处理器中，例如，可以描述为：一种处理器包括布置单元、路径获取单元和仿真单元。其中，这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定，例如，路径获取单元还可以被描述为“向仿真单元提供回波路径的单元”。
67.作为另一方面，本发明还提供了一种计算机可读介质，该计算机可读介质可以是上述实施例中描述的设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该设备中的。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被该设备执行时，使得该设备执行的步骤包括：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。
68.在本发明实施例的技术方案中，提出一种可用于紧缩场微波暗室内对紧缩场的多路径杂波进行研究的分析方法，并设计一种易于实现的杂波抑制装置(即阻隔装置)，能够实现对紧缩场多路径杂波的有效分析及抑制，为高精度rcs测试提供条件。
69.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

技术特征：
1.一种紧缩场多路径杂波分析方法，其特征在于，包括：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置，包括：导入紧缩场模型，在所述紧缩场模型中确定所述馈源位置和所述静区的范围；基于所述馈源位置和所述静区的范围设置所述辐射源和所述观测点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，包括：针对所述静区的范围分别设置x、y、z方向的仿真步进，依据所述仿真步进执行所述遍历。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：在确定所述回波路径中的杂波路径之后，在每一杂波路径放置阻隔装置以削弱或消除该杂波路径的杂波。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述阻隔装置为模块化、可拆卸的吸波屏风；所述阻隔装置包括：多层金属骨架和粘贴在每一层金属骨架两侧的尖锥型吸波材料。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述阻隔装置进一步包括：处于底部的可移动平板；在所述阻隔装置中，相邻的金属骨架通过专用接口拼接，多个金属骨架通过逐层拼接可达到预设高度。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述紧缩场为反射面型紧缩场，所述紧缩场中还设置有主反射面和副反射面，所述回波路径经过所述主反射面和所述副反射面的反射。8.一种紧缩场多路径杂波分析装置，其特征在于，包括：布置单元，用于：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；路径获取单元，用于：利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；仿真单元，用于：对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。9.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的方法。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的方法。

技术总结
本发明涉及一种紧缩场多路径杂波分析方法和装置，该方法的一个具体实施方式包括：基于射线弹跳算法，将辐射源设置在紧缩场的静区位置，将观测点设置在所述紧缩场的馈源位置；利用所述辐射源遍历所述静区的各个位置，利用所述观测点获取从所述辐射源到所述观测点的各种路径，从而模拟处在所述静区的各种目标可能产生的回波路径；其中，所述回波路径包括工作路径和杂波路径；对每一回波路径进行仿真分析，从而确定所述回波路径中的工作路径和杂波路径。该实施方式能够准确判别紧缩场暗室内可能的杂波路径。能的杂波路径。能的杂波路径。


技术研发人员：杨景轩 侯鑫 白杨
受保护的技术使用者：北京环境特性研究所
技术研发日：2021.12.03
技术公布日：2022/3/8