一种半导体LED光谱测试仪的制作方法

一种半导体led光谱测试仪
技术领域
1.本实用新型涉及光谱测试仪领域，具体涉及一种半导体led光谱测试仪。


背景技术：

2.光谱仪又称分光仪，广泛为人知的为直读光谱仪，以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置，它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成，色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种，半导体led光谱测试仪也有着广泛的运用。
3.但是其在实际使用时，大多数半导体led光谱测试仪不方便运输，在携带运输时会磨损，从而导致半导体led光谱测试仪使用寿命减少。
4.因此，发明一种半导体led光谱测试仪来解决上述问题很有必要。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的是提供一种半导体led光谱测试仪，通过增设外壳，同时增设挡板与通槽以及卡槽相配合，使得本实用新型运输携带时不易损坏，延长了本实用新型的使用寿命，以解决技术中的上述不足之处。
6.为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体led光谱测试仪，包括外壳，所述外壳内部开设有空腔，所述空腔内部滑动连接有光谱测试仪本体，所述外壳顶部开设有通槽，所述通槽内部滑动连接有挡板，所述挡板与外壳内壁滑动连接，所述空腔底部开设有卡槽，所述挡板与卡槽活动卡接，所述挡板远离卡槽一侧固定连接有拉手，所述光谱测试仪本体靠近挡板一侧开设有凹槽，所述凹槽内部滑动连接有限位块，所述凹槽内部固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧数量设置为多个，多个所述复位弹簧环形阵列分布于凹槽内部，所述复位弹簧远离凹槽一侧与限位块固定连接，所述挡板靠近光谱测试仪本体一侧开设有限位槽，所述限位槽与限位块活动卡接。
7.优选的，所述外壳顶部固定连接有提手，所述提手侧壁固定连接有第一防滑凸纹，所述第一防滑凸纹数量设置为多个，多个所述第一防滑凸纹等距均匀分布于提手侧壁，多个所述第一防滑均由橡胶材料制成。
8.优选的，所述光谱测试仪本体底部和顶部均固定连接有限位滑条，所述限位滑条数量设置为多个，多个所述限位滑条等距均匀分布于光谱测试仪本体底部和顶部。
9.优选的，所述外壳内壁开设有滑槽，所述滑槽数量设置为多个，多个所述滑槽等距均匀分布于外壳内壁，多个所述滑槽分别与多个所述限位滑条滑动连接。
10.优选的，所述拉手侧壁固定连接有第二防滑凸纹，所述第二防滑凸纹数量设置为多个，多个所述第二防滑凸纹等距均匀分布于提手侧壁，多个所述第二防滑均由橡胶材料制成。
11.优选的，所述挡板靠近卡槽一侧固定连接有第一磁条，所述卡槽内部固定连接有
第二磁条，所述第一磁条和第二磁条相匹配。
12.在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：
13.通过增设外壳，同时增设挡板与通槽以及卡槽相配合，结构简单，同时便于操作，使得本实用新型运输携带时不易损坏，延长了本实用新型的使用寿命，同时增设多个限位滑条与多个滑槽相匹配，使得光谱测试仪本体在取放时定位更加快捷，使用效率更高，通过增设第一磁条和第二磁条相配合，使得挡板操作时更加快捷方便。
附图说明
14.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
15.图1为本实用新型的整体结构示意图；
16.图2为本实用新型外壳的立体结构示意图；
17.图3为本实用新型光谱测试仪本体的立体结构示意图；
18.图4为本实用新型光谱测试仪本体的爆炸图；
19.图5为本实用新型挡板的立体结构示意图。
20.附图标记说明：
21.1、外壳；2、光谱测试仪本体；3、通槽；4、挡板；5、卡槽；6、拉手；7、凹槽；8、限位块；9、复位弹簧；10、限位槽；11、提手；12、限位滑条；13、滑槽；14、第一磁条；15、第二磁条。
具体实施方式
22.为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。
23.本实用新型提供了如图1-5所示的一种半导体led光谱测试仪，包括外壳1，所述外壳1内部开设有空腔，所述空腔内部滑动连接有光谱测试仪本体2，所述外壳1顶部开设有通槽3，所述通槽3内部滑动连接有挡板4，所述挡板4与外壳1内壁滑动连接，所述空腔底部开设有卡槽5，所述挡板4与卡槽5活动卡接，所述挡板4远离卡槽5一侧固定连接有拉手6，所述光谱测试仪本体2靠近挡板4一侧开设有凹槽7，所述凹槽7内部滑动连接有限位块8，所述凹槽7内部固定连接有复位弹簧9，所述复位弹簧9数量设置为多个，多个所述复位弹簧9环形阵列分布于凹槽7内部，所述复位弹簧9远离凹槽7一侧与限位块8固定连接，所述挡板4靠近光谱测试仪本体2一侧开设有限位槽10，所述限位槽10与限位块8活动卡接，在使用本实用新型时，将光谱测试仪本体2通过限位滑条12与滑槽13配合滑入外壳1内部，再将挡板4通过拉手6从通槽3滑入，再与卡槽5卡接，同时第一磁条14与第二磁条15相吸附，限位块8在复位弹簧9的作用下从凹槽7内弹出并与限位槽10卡接，再通过提手11对本实用新型进行携带运输，通过增设外壳1，同时增设挡板4与通槽3以及卡槽5相配合，结构简单，同时便于操作，使得本实用新型运输携带时不易损坏，延长了本实用新型的使用寿命。
24.进一步的，在上述技术方案中，所述外壳1顶部固定连接有提手11，所述提手11侧壁固定连接有第一防滑凸纹，所述第一防滑凸纹数量设置为多个，多个所述第一防滑凸纹等距均匀分布于提手11侧壁，多个所述第一防滑均由橡胶材料制成。
25.进一步的，在上述技术方案中，所述光谱测试仪本体2底部和顶部均固定连接有限位滑条12，所述限位滑条12数量设置为多个，多个所述限位滑条12等距均匀分布于光谱测试仪本体2底部和顶部。
26.进一步的，在上述技术方案中，所述外壳1内壁开设有滑槽13，所述滑槽13数量设置为多个，多个所述滑槽13等距均匀分布于外壳1内壁，多个所述滑槽13分别与多个所述限位滑条12滑动连接，增设多个限位滑条12与多个滑槽13相匹配，使得光谱测试仪本体2在取放时定位更加快捷，使用效率更高。
27.进一步的，在上述技术方案中，所述拉手6侧壁固定连接有第二防滑凸纹，所述第二防滑凸纹数量设置为多个，多个所述第二防滑凸纹等距均匀分布于提手11侧壁，多个所述第二防滑均由橡胶材料制成，使得提手11使用时不易打滑。
28.进一步的，在上述技术方案中，所述挡板4靠近卡槽5一侧固定连接有第一磁条14，所述卡槽5内部固定连接有第二磁条15，所述第一磁条14和第二磁条15相匹配，通过增设第一磁条14和第二磁条15相配合，使得挡板4操作时更加快捷方便。
29.本实用工作原理：
30.参照说明书附图1-5，在使用本实用新型时，将光谱测试仪本体2通过限位滑条12与滑槽13配合滑入外壳1内部，再将挡板4通过拉手6从通槽3滑入，再与卡槽5卡接，同时第一磁条14与第二磁条15相吸附，限位块8在复位弹簧9的作用下从凹槽7内弹出并与限位槽10卡接，再通过提手11对本实用新型进行携带运输。
31.以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。