吸波材料性能参数测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及吸波材料测试技术领域，尤其涉及一种吸波材料性能参数测试装置。


背景技术：

2.在诸如天线测试等领域，吸波材料被广泛使用，其性能参数对天线测试结果具有重要影响。
3.在搭建测试环境时，需要采购吸波材料，但是，在市场上采购的吸波材料所标称的性能参数，应用到实际测试时往往出现问题，这是因为，对于吸波材料而言，其性能参数与获得对应性能参数的测试方式是相匹配的。因此，若吸波材料在销售状态下标称的性能参数与其被购买后处于使用状态时的方式不同，也就是说，吸波材料所测参数所依赖的测试方式与实际应用场景中电磁波的入射方式并不相同，则吸波材料在实际使用过程中体现出来的性能参数和采购时认定的性能参数可能并不相同。事实上，这种情形发生的可能性确实很大。下面举例加以说明。
4.目前，吸波材料厂商提供的参数测量有二种测试方式：
5.其一，参照图1，该种测试方式应用于测试低频吸波材料3。测试装置包括天线1和天线2和网络分析仪4。测试该低频吸波材料3的性能参数时，电磁波以一定角a入射后，又以一定的角b反射，其中角a＝角b。
6.但是，在实际应用时通常考虑的是，低频吸波材料3在使用状态下电磁波实际入射角度并以一角度反射的能量值，这个角度与a或b并不相等，这与射频测试时的驻波比参数类似。
7.其二，参照图2，该种测试方式为远场测试，应用于测试高频吸波材料9，例如20ghz～110ghz，其采用紧缩场平面波入射，测试装置包括，馈元5，馈元6，网络分析仪7和紧缩场反射面8。
8.但是，与之形成对比的，当高频吸波材料9被实际应用到具体测试时(例如毫米波雷达的吸波材料应用场景)，频率在24ghz～24.25ghz、76ghz～81ghz的毫米波雷达与吸波材料间的距离距离很近，比如，1～2米，并非是远场平面波场景。由此可见，吸波材料所处的应用场景和测试场景不同，采购吸波材料时所看到的性能参数相对于按照实际应用中所体现的测试结果而言，在很大程度上并不可用。
9.综上，采购的吸波材料的所标出性能指标可能并不可靠，导致测试误差非常大，需要重新进行测试。


技术实现要素：

10.本实用新型旨在提供一种吸波材料性能参数测试装置，用以根据具体测试场景准确确定吸波材料在测试工况下的性能参数。
11.本实用新型提供了一种吸波材料性能参数测试装置，包括：非金属套筒和测试雷
达；所述非金属套筒一端开口；所述测试雷达设置于所述非金属套筒的筒体内，或，设置于所述非金属套筒与所述开口相对的另一端。
12.优选地，本实用新型吸波材料性能参数测试装置中，所述非金属套筒的外壁包覆有吸波层。
13.优选地，本实用新型吸波材料性能参数测试装置中，所述非金属套筒为圆柱筒。
14.优选地，本实用新型吸波材料性能参数测试装置中，所述非金属套筒沿轴向的长度，以及所述非金属套筒的直径均依据待测吸波材料的尺寸和测试雷达的尺寸确定。
15.优选地，本实用新型吸波材料性能参数测试装置中，所述非金属套筒的开口端朝向待测试吸波材料。
16.优选地，本实用新型吸波材料性能参数测试装置中，所述待测试吸波材料贴合于微波暗室的侧壁；所述非金属套筒和所述测试雷达设置于所述微波暗室内。
17.本实用新型中，由于采用这种测试方式，实现了低频吸波材料在实际应用场景下的电磁波垂直测试，以及高频吸波材料在实际应用场景下的近场测试，相对于现有技术来说，待测吸波材料所测出的性能指标准确可靠。
18.并且，在明确被测试吸波材料的范围的前提下，通过将测试雷达设置于非金属套筒内或者非金属套筒的一端，限制测试雷达的照射面积为与待测吸波材料的范围对应，使得测试结果则排除了微波暗室内其他区域的干扰(例如，排除了微波暗室其他区域的吸波材料的干扰)，因此，进一步增强测试结果的准确性。
19.此外，待测吸波材料套筒的设计，更加适用于小面积吸波材料的rcs性能测试，除了消除周边的干扰外，还避免了在进行小范围待测吸波材料的测试时，需要建设很宽的微波暗室的局限。这是因为，如果没有套筒，为了区分出被测吸波材料和暗室环境干扰吸波材料，需要把暗室的宽和高建得很大，以达到雷达到暗室侧壁和地面或顶壁的吸波材料的距离远大于雷达到被测吸波材料的距离，只有这样，才可以在测试雷达上区分出回波能量的来源，以此分析干扰所在，而设计套筒后，则无需建设很宽的暗室了，测试成本降低，经济实用。
附图说明
20.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1为现有技术中，吸波材料厂商提供的第一种吸波材料性能参数测量方式；
22.图2为现有技术中，吸波材料厂商提供的第二种吸波材料性能参数测量方式；
23.图3是本实用新型吸波材料性能参数测试装置实施例的结构示意图。
具体实施方式
24.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施
例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
25.本实用新型的设计思路为：在微波暗室中测试待测吸波材料的性能参数时，若直接用试雷达去测吸波材料的相对rcs特性，由于微波暗室中雷达的照射面积很宽，特别是水平方向的波束可能达到+/-60
°
，这在很大范围内的噪音都可以测到，例如侧面墙、地面、顶部贴装的吸波材料产生的信号作为噪音，会直接关系到待测吸波材料性能参数的准确性。
26.基于此，本实用新型为测试雷达加装套筒，通过设计伸出套筒的轴向长度，尽可能地排除微波暗室中其他区域吸波材料的干扰。
27.参照图3，示出了本实用新型吸波材料性能参数测试装置实施例的结构示意图。该测试装置包括非金属套筒30和测试雷达20。非金属套筒30一端开口；测试雷达20设置于非金属套筒30的筒体内，或，设置于非金属套筒30与开口相对的另一端。
28.在使用状态下，非金属套筒30和测试雷达20设置于微波暗室10内，待测试吸波材料50贴合于微波暗室10的侧壁，非金属套筒30的开口端朝向待测试吸波材料50。
29.在本实施例中，套筒材料只要是非金属即可，至于具体选用何种非金属材料，本实用新型不做限定。
30.本实用新型对套筒的立体结构也不做限定，中空的腔体，一端开口于，另一端设置有测试雷达，或者套筒内设置有测试雷达皆可。本实用新型亦不做限定。
31.本实用新型亦不做限定，套筒可以为圆柱、单页不排除圆锥或者圆台，优选圆柱。本实用新型亦不做限定。
32.对于分技术套筒30沿轴向的长度以及其直径，需要依据待测吸波材料的尺寸范围和测试雷达的尺寸确定。从图3可以看出，通过平面几何的知识，是可以很方便的求出非金属套筒的长度了。
33.本实用新型中，由于采用这种测试方式，实现了低频吸波材料在实际应用场景下的电磁波垂直测试，以及高频吸波材料在实际应用场景下的近场测试，相对于现有技术来说，待测吸波材料50所测出的性能指标准确可靠。
34.并且，在明确待测吸波材料50的所覆盖的范围的前提下，通过将测试雷达20设置于非金属套筒30内或者非金属套筒30的一端，限制测试雷达30的照射面积为与待测吸波材料50的覆盖的范围对应，使得测试结果则排除了微波暗室内其他区域的干扰(例如，排除了微波暗室其他区域的吸波材料的干扰)，进一步增强测试结果的准确性。
35.此外，非金属套筒30的设计，更加适用于小面积吸波材料的rcs性能测试，除了消除周边的干扰外，还避免了在进行小范围待测吸波材料的测试时，需要建设很宽的微波暗室10的局限。这是因为，如果没有非金属套筒30，为了区分出待测吸波材料50和微波暗室10内的干扰吸波材料，需要把微波暗室10的宽和高建得很大，以达到测试雷达20到微波暗室侧壁和地面或顶壁的吸波材料的距离远大于雷达到待测吸波材料的距离，只有这样，才可以在测试雷达20上区分出回波能量的来源，以此分析干扰所在。而若使用了本实施例，则无需建设很宽的暗室了，因此，测试成本降低，经济实用。
36.再次参照图3，可以看出，本实施例非金属套筒30的外壁包覆有吸波层40。
37.通过在非金属套筒30外增加吸波层40，消除微波暗室侧壁、地面、顶壁等区域吸波材料对测试结果的影响。
38.需要说明的是，实际上，测试结果中也包括与非金属套筒关联的数据，但因为非金属套筒30的几何尺寸是明确的，则可以通过距离将该数据进行排除。
39.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。