模组化设计的测试头安装结构及测试装置的制作方法

1.本技术涉及电子产品接口测试设备技术领域，特别涉及一种模组化设计的测试头安装结构及测试装置。


背景技术：

2.大部分电器出售前需要对电器进行抽检，并通过测试装置对电子产品接口进行测试。相关技术中，测试装置一般包括有多个安装测试头的测试头安装结构，测试头安装结构包括安装测试头的安装座以及固定安装座的固定座，在对电子产品接口进行测试时，将测试产品所对应的测试头安装在安装座上，由于安装座与固定座是刚性连接，在测试头插入电子产品接口时，易损坏测试头安装结构，测试头安装结构使用寿命短。


技术实现要素：

3.本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种模组化设计的测试头安装结构，能够在对电子产品接口进行测试时，具有浮动效果及缓冲效果。
4.本技术还提出一种具有上述模组化设计的测试头安装结构的测试装置。
5.根据本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构，包括：
6.安装座，用于固定测试头；
7.浮动块，所述浮动块和所述安装座之间通过连接件连接，所述浮动块和所述安装座中至少一个开设有安装孔，所述连接件的端部穿设于所述安装孔内，且所述连接件与所述安装孔的内壁之间形成间隔，使所述浮动块和/或所述安装座能够通过所述间隔与所述连接件相对活动；
8.固定座，所述固定座和所述浮动块之间设有缓冲组件，所述固定座设有第一固定部；
9.底座，所述底座上开设有安装槽，所述底座对应所述安装槽的位置设有第二固定部，所述固定座插合于所述安装槽内，且所述第一固定部与所述第二固定部可拆卸连接。
10.根据本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构，至少具有如下有益效果：安装座和浮动块中至少一个开设有安装孔，并通过安装孔与连接件连接，连接件与安装孔之间形成间隔，在该测试头安装结构对电子产品接口进行测试时，由于浮动块和/或安装座能够通过间隔与连接件相对活动，使安装座起到浮动效果，提高该测试头安装结构的使用寿命。另外，浮动块与固定座之间通过缓冲组件连接，在该测试头安装结构对电子产品接口进行测试时，缓冲组件能够对浮动块起到一定缓冲作用，进一步提高该测试头安装结构的使用寿命。
11.根据本技术的一些实施例，所述安装孔开设于所述浮动块，所述连接件的一端通过所述安装孔与所述浮动块活动连接，另一端与所述安装座固定连接。
12.根据本技术的一些实施例，所述连接件的一端设有固定头，所述固定头位于所述
安装孔内，所述安装孔内形成有缩口结构，所述固定头的尺寸大于所述缩口结构的口径。
13.根据本技术的一些实施例，所述测试头安装结构还包括有第一弹性件，所述第一弹性件的一端连接所述浮动块，另一端连接所述连接件或者所述安装座，所述连接件能够在所述安装孔内沿所述安装孔的轴向滑动。
14.根据本技术的一些实施例，所述连接件的两端分别与所述浮动块和所述安装座可转动连接，所述第一弹性件套设于所述连接件上，且所述第一弹性件的两端分别连接于所述浮动块和所述固定座。
15.根据本技术的一些实施例，所述缓冲组件包括第二弹性件，所述第二弹性件的两端分别抵靠于所述浮动块与所述固定座。
16.根据本技术的一些实施例，所述第一固定部和所述第二固定部中，其中一个为限位玻珠，另一个为卡孔。
17.根据本技术的一些实施例，所述安装座上形成有安装平台，所述安装平台用于安装测试头。
18.根据本技术的一些实施例，所述安装座沿高度方向开设有安装槽，所述安装槽用于安装测试头。
19.根据本技术的第二方面实施例的测试装置，包括上述模组化设计的测试头安装结构。
20.根据本技术的第二方面实施例的测试装置，至少具有如下有益效果：包括上述模组化设计的测试头安装结构的全部有益效果。
21.本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
22.下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明，其中：
23.图1为本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构的剖视图；
24.图2为图1中a处的放大图；
25.图3为本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构的立体图；
26.图4为本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构的另一结构的立体图。
27.附图标记：
28.安装座100、安装平台110、安装槽120；
29.浮动块200、间隔201、缩口结构210、安装孔220；
30.固定座300、第一固定部310；
31.连接件400、连接件410、固定头411、第一弹性件420；
32.缓冲组件500、导柱510、导套520、第二弹性件530；
33.测试头600；
34.底座700、第二固定部710；
具体实施方式
35.下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
36.在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
37.在本技术的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
38.本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
39.本技术的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
40.根据本技术的第一方面实施例的模组化设计的测试头安装结构，包括安装座100、浮动块200、固定座300、连接件410、缓冲组件500。
41.安装座100用于固定测试头600；
42.浮动块200和安装座100之间通过连接件410连接，浮动块200和安装座100中至少一个开设有安装孔220，连接件410的端部穿设于安装孔220内，且连接件410与安装孔220的内壁之间形成间隔201，使浮动块200和/或安装座100能够通过间隔201与连接件410相对活动；
43.固定座300，固定座300和浮动块200之间设有缓冲组件500，固定座300设有第一固定部310；
44.底座700上开设有安装槽，底座700对应安装槽的位置设有第二固定部710，固定座插合于安装槽内，且第一固定部310与第二固定部710可拆卸连接。
45.本技术第一方面实施例的的模组化设计的测试头安装结构下面简称为测试头安装结构。
46.如图1至图2所示，在该测试头安装结构处于初始状态时，即该测试头安装结构处于未对电子产品接口进行检测时，安装座100与浮动块200之间以及浮动块200与固定座300之间具有一定间隙。
47.在该测试头安装结构需要对电子产品接口进行检测时，该测试头安装结构水平放置，即，使安装座100、浮动块200、固定座300沿水平方向依次连接，且将电子产品接口相对应的测试头600安装于安装座100上。然后，水平移动电器，使测试头600插入电子产品接口
中。
48.安装座100和浮动块200中至少一个开设有安装孔220，并通过安装孔220与连接件410固定连接，且连接件410与安装孔220之间形成间隔201，在该测试头安装结构对电子产品接口进行测试时，由于浮动块200和/或安装座100能够通过间隔201与连接件410相对活动，使安装座100起到浮动效果，提高该测试头安装结构的使用寿命。
49.具体来说，浮动块200和安装座100中至少一个开设有安装孔220，且安装孔220与连接件410的侧面之间形成间隔201，在安装座100受力时，间隔201能够使安装座100在一定方向上进行摆动，使安装座100形成浮动效果，从而在测试头600与电子产品接口相插接时，具有一定缓冲效果，保护该测试头安装结构，提高该测试头安装结构的使用寿命，同时，也能够保护测试头600与电子产品接口。
50.根据本技术的一些实施例，安装座100和浮动块200两者皆开设有安装孔220，连接件410能够在浮动块200内的安装孔220摆动，从而带动安装座100摆动，另外，安装座100也能够与连接件410相对摆动，可以理解的是，该实施例中的安装座100的摆动角度较大。
51.根据本技术的一些实施例，仅安装座100上开设有安装孔220，浮动块200与连接件410之间固定连接，即，安装座100能够通过与安装孔220之间的间隔201与连接件410形成相对摆动，实现浮动效果，由于连接件410的部分与浮动块200固定连接，从而，该实施例中的安装座100摆动时更加稳定，该测试头安装结构更加稳定。
52.根据本技术的一些实施例，仅浮动块200上开设有安装孔220，安装座100与连接件410之间固定连接，即，连接件410能够在安装孔220内摆动，从而带动安装座100摆动，可以理解的是，该实施例中的安装座100摆动时更加稳定，且由于连接件410具有一定长度，所以，该实施例中的安装座100摆动的角度也相对较大。
53.另外，固定座300与浮动块200之间通过缓冲组件500相连接，可以理解的是，该测试头安装结构对电子产品接口进行测试，电子产品接口与测试头600插接时，安装座100将通过连接件410、浮动块200、缓冲组件500对固定座300产生一个水平方向的力，其中，缓冲组件500能够进行一个缓冲，进一步保护该测试头安装结构，进一步提高该测试头安装结构的使用寿命。
54.如图1所示，固定座300的一端与浮动块200相连接，另一端插合于底座700的安装槽内。另外，由于第一固定部310与第二固定部710之间可拆卸连接，即固定座300和底座700通过两个固定部形成可拆卸连接。
55.需要说明的是，安装座100、浮动块200、固定座300、连接件410、缓冲组件500为该测试头安装结构的活动端，底座700上可以包括多个安装槽，即可根据电子产品接口的数量选择插合相对应数量的活动端于底座700上。
56.若测试不同的电子产品接口需要更换不同测试头600，而测试头600的安装与拆卸不便，耗费工时。可以说明的是，可在安装座100固定不同的测试头600，对电子产品接口进行测试时，可固定有相对应的测试头600的活动端插合于底座700上，避免拆卸测试头600，提高了测试效率，即实现了活动端的快速更换，通过第一固定部310和第二固定部710的配合，替代了螺丝或其他需要长时间拆装的连接方式，在需要更换测试头600时，直接将固定座300从底座700的安装槽内拔出即可，可以大幅减少生产时测试头600的更换时间。可以理解的是，该测试头安装结构实现了模块化设计，提高了该测试头安装结构的通用性，减少了
换线的时间。
57.根据本技术的一些实施例，浮动块200开设有安装孔220，连接件410的一端通过安装孔220与浮动块200活动连接，另一端与安装座100固定连接。
58.如图2所示，浮动块200上开设有安装孔220，连接件410能够在间隔201内摆动，从而带动安装座100摆动，可以理解的是，该实施例中的安装座100摆动时更加稳定，且由于连接件410具有一定长度，所以，安装座100摆动的角度也较大。
59.根据本技术的一些实施例，连接件410的一端设有固定头411，固定头411位于安装孔220内，安装孔220内形成有缩口结构210，固定头411的尺寸大于缩口结构210的口径。
60.如图2所示，连接件410的一端形成固定头411，固定头411相对于连接件410其他位置尺寸较大，安装孔220的一端开口，连接件410通过开口使固定头411位于安装孔220内，安装孔220内形成缩口结构210，缩口结构210的口径小于固定头411的尺寸，固定头411无法离开安装孔220，使连接件410的一端固定于浮动块200的安装孔220内。另外，浮动块200对应缩口结构210的位置与连接件410之间也形成有间隔201。
61.根据本技术的一些实施例，该测试头安装结构还包括有第一弹性件420，第一弹性件420的一端连接浮动块200，另一端连接连接件410或者安装座100，连接件410能够在安装孔220内沿安装孔220的轴向滑动。
62.在测试电子产品接口时，安装座100推动连接件410在安装孔220内滑动，另外，第一弹性件420一端连接浮动块200，另一端连接连接件410或者安装座100。
63.可以理解的是，若第一弹性件420的另一端与安装座100连接。连接件410在安装孔220内滑动，使安装座100与浮动块200逐渐靠近，由于第一弹性件420的弹力作用，第一弹性件420能够产生驱使安装座100与浮动块200远离的推力，起到一个缓冲的效果，且第一弹性件420能够起到使安装座100复位的效果。
64.可以理解的是，若第一弹性件420的另一端与连接件410连接，具体来说，第一弹性件420设于安装孔220内，一端连接安装孔220的内壁，另一端连接连接件410。连接件410在安装孔220内滑动，由于第一弹性件420的弹力作用，能够产生阻止连接件410在安装孔220内继续滑动的阻力，起到一个缓冲效果，且第一弹性件420能够起到使连接件410复位的效果，从而带动安装座100复位。
65.根据本技术的一些实施例，连接件410的两端分别与浮动块200和安装座100可转动连接，第一弹性件420套设于连接件410上，且第一弹性件420的两端分别连接于浮动块200和固定座300。
66.如图1至图2所示，连接件410的一端与安装座100通过螺纹连接，另一端位于安装孔220内，使安装座100能够沿连接件410的轴心进行一定角度的旋转，增加了安装座100可缓冲的角度，提高了安装座100的缓冲效果。
67.可以理解的是，在该检测结构测试电子产品接口时，若安装座100受到连接件410周向方向的力，安装座100能够转动一定角度，第一弹性件420能够对安装座100进行缓冲，另外，由于第一弹性件420两端连接于浮动块200和固定座300，第一弹性件420能够通过自身的扭力，使安装座100复位。
68.例如，第一弹性件420为弹簧。
69.根据本技术的一些实施例，连接件410为限位螺丝，限位螺丝的螺丝头即上述固定
头411，限位螺丝具有螺丝头的一端与浮动块200连接。限位头具有螺纹的一端与安装座100螺纹连接，可以理解的是，限位头与安装座100螺纹连接时，并不锁紧，使安装座100能够具有一定转向角度。
70.根据本技术的一些实施例，缓冲组件500包括第二弹性件530，第二弹性件530的两端分别抵靠于浮动块200与固定座300。
71.如图1所示，浮动块200与固定座300之间通过第二弹性件530连接，在浮动块200朝向固定座300移动时，通过第二弹性件530对浮动块200起到缓冲作用。
72.例如，第二弹性件530为弹簧。
73.根据本技术的一些实施例，缓冲组件500还包括导柱510、导套520，浮动块200与固定座300中其中一个与导套520固定连接，另一个与导柱510的一端固定连接，导柱510的另一端穿设于导套520，第二弹性件530套设于导柱510。
74.如图1所示，导套520嵌设于浮动块200和固定座300的其中一个上，导柱510的一端固定于另一个上，另一端穿设于导套520内。可以理解的是，导套520配合导柱510使浮动块200与固定座300连接更加稳定，且使浮动块200沿水平方向移动时更加稳定。
75.根据本技术的一些实施例，安装座100上形成有安装平台110，安装平台110用于安装测试头600。
76.如图3所示，安装座100的上端形成有安装平台110。
77.根据本技术的一些实施例，安装座100沿高度方向开设有安装槽120，安装槽120用于安装测试头600。
78.部分电子产品接口将沿竖直方向设置，所以，测试头600也需要沿竖直方向安装于安装座100上，如图4所示，安装槽120能够更好的固定测试头600。
79.可以理解的是，由于测试头600具有一定长度，浮动块200、固定座300上对应安装槽120上也对应安装槽120形成有凹槽，便于测试头600安装于该测试头安装结构上，进一步稳定固定测试头600。
80.根据本技术的一些实施例，第一固定部310和第二固定部710中，其中一个为限位玻珠，另一个为卡孔。
81.如图1所示，第一固定部310为限位玻珠，第二固定部710为卡孔。
82.根据本技术的第二方面实施例的测试装置，包括上述模组化设计的测试头安装结构。
83.根据本技术的第二方面实施例的测试装置，至少具有如下有益效果：包括上述模组化设计的测试头安装结构的全部有益效果。
84.上面结合附图对本技术实施例作了详细说明，但是本技术不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本技术宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本技术的实施例及实施例中的特征可以相互组合。