一种传感器的测试装置的制作方法

专利查询2022-5-23  102



1.本实用新型涉及传感器测试技术领域,具体为一种传感器的测试装置。


背景技术:

2.温度传感器是指能感受温度并转换成可用输出信号的传感器。温度传感器是温度测量仪表的核心部分,在温度传感器生产过程中,需要对生产的温度传感器进行测试。
3.传统的测试方式为,使用冷热两种极限温度对温度传感器进行测试,但在对同一个测试装置进行升温和降温是需要时间的,且在低温检测后,再将测试装置升至高温,耗费时间更长,影响测试效率,若采用两个测试装置分别进行低温和高温检测的方式,在低温(或高温)检测完成后,需要拆卸温度传感器才能进行高温(或低温)检测,操作繁琐。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的在于提供一种传感器的测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种传感器的测试装置,包括测试箱体,所述测试箱体的内侧壁固定安装有分隔墙,测试箱体的内底壁通过轴承转动连接有转轴,转轴的表面固定安装有分隔板,分隔板和分隔墙的相对面均开设有插接槽,插接槽的内壁插设有插接板,分隔墙和分隔板的数量均为四个,四个分隔墙和分隔板将测试箱体的内部分隔成四个区域,其中一个分隔墙的表面固定安装有半导体制冷片,半导体制冷片的冷端和热端分别位于两个相邻的区域,与半导体制冷片冷端所在区域对立的区域内通过陶瓷柱固定安装有电发热棒,转轴的固定连接有密封盖,密封盖的上端开设有安装孔,安装孔的内壁螺纹连接有传感器本体,测试箱体的正面固定安装有控制面板。
6.优选的,所述密封盖的上表面开设有阶梯槽,插接板的表面与阶梯槽的内壁搭接,且插接板和阶梯槽的数量均为四个,四个插接板的上表面固定安装有连接环。
7.优选的,所述测试箱体的下表面固定安装有支撑腿,且支撑腿的数量为四个,四个支撑腿呈矩形阵列设置在测试箱体的下表面。
8.优选的,所述半导体制冷片热端所在区域的内底壁固定安装有散热风扇,且该区域的内壁开设有通风孔。
9.优选的,所述半导体制冷片和电发热棒均与控制面板电性连接,控制面板与外部电源电性连接。
10.优选的,所述半导体制冷片的数量为三个,三个半导体制冷片等距设置在分隔墙的表面。
11.有益效果
12.本实用新型提供了一种传感器的测试装置,具备以下有益效果:
13.1.该传感器的测试装置,通过在测试箱体内设置分隔墙,并在转轴上设置与分隔墙相适配的分隔板,利用分隔墙和分隔板将测试箱体分隔成不同的区域,并在不同的区域
内设置半导体制冷片和电发热棒,能够在测试箱体内营造低温和高温环境,在进行低温检测后,能够快速进行高温测试,提高了测试效率。
14.2.该传感器的测试装置,通过设置转轴,并在转轴上设置密封盖,将传感器本体安装在密封盖上,在进行一项测试后,能够通过转动转轴,使传感器本体转移到其他测试区域,不需要拆装传感器本体,操作简单。
附图说明
15.图1为本实用新型正剖结构示意图;
16.图2为本实用新型俯剖结构示意图;
17.图3为本实用新型密封盖立体结构示意图。
18.图中:1测试箱体、2分隔墙、3转轴、4分隔板、5插接板、6半导体制冷片、7电发热棒、8密封盖、9传感器本体、10控制面板、11连接环、12支撑腿、13散热风扇。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
20.请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种传感器的测试装置,包括测试箱体1,测试箱体1的内侧壁固定安装有分隔墙2,测试箱体1的内底壁通过轴承转动连接有转轴3,转轴3的表面固定安装有分隔板4,分隔板4和分隔墙2的相对面均开设有插接槽,插接槽的内壁插设有插接板5。
21.分隔墙2和分隔板4的数量均为四个,四个分隔墙2和分隔板4将测试箱体1的内部分隔成四个区域,其中一个分隔墙2的表面固定安装有半导体制冷片6,半导体制冷片6的数量为三个,三个半导体制冷片6等距设置在分隔墙2的表面,半导体制冷片6的冷端和热端分别位于两个相邻的区域,半导体制冷片6热端所在区域的内底壁固定安装有散热风扇13,且该区域的内壁开设有通风孔,与半导体制冷片6冷端所在区域对立的区域内通过陶瓷柱固定安装有电发热棒7。
22.转轴3的固定连接有密封盖8,密封盖8的上表面开设有阶梯槽,插接板5的表面与阶梯槽的内壁搭接,且插接板5和阶梯槽的数量均为四个,四个插接板5的上表面固定安装有连接环11,密封盖8的上端开设有安装孔,安装孔的内壁螺纹连接有传感器本体9。
23.通过设置转轴3,并在转轴3上设置密封盖8,将传感器本体9安装在密封盖8上,在进行一项测试后,能够通过转动转轴3,使传感器本体9转移到其他测试区域,不需要拆装传感器本体9,操作简单。
24.测试箱体1的正面固定安装有控制面板10,半导体制冷片6和电发热棒7均与控制面板10电性连接,控制面板10与外部电源电性连接。
25.测试箱体1的下表面固定安装有支撑腿12,且支撑腿12的数量为四个,四个支撑腿12呈矩形阵列设置在测试箱体1的下表面。
26.通过在测试箱体1内设置分隔墙2,并在转轴3上设置与分隔墙2相适配的分隔板4,
利用分隔墙2和分隔板4将测试箱体1分隔成不同的区域,并在不同的区域内设置半导体制冷片6和电发热棒7,能够在测试箱体1内营造低温和高温环境,在进行低温检测后,能够快速进行高温测试,提高了测试效率。
27.工作原理:当使用该传感器的测试装置时,利用半导体制冷片6和电发热棒7分别对个自所在区域内进行降温或升温,拉出连接环11使插接板5脱离分隔墙2和分隔板4,转动转轴3使传感器本体9转动到半导体制冷片6冷端所在区域,将插接板5重新插入插接槽内,进行低温环境下测试,当低温环境检测结束后,拉出连接环11使插接板5脱离分隔墙2和分隔板4,转动转轴3使传感器本体9转动到电发热棒7所在区域,将插接板5重新插入插接槽内,进行高温环境下测试,不需要拆卸传感器本体9即可完成测试环境的转换,操作方便。
28.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。


技术特征:
1.一种传感器的测试装置,包括测试箱体(1),其特征在于:所述测试箱体(1)的内侧壁固定安装有分隔墙(2),测试箱体(1)的内底壁通过轴承转动连接有转轴(3),转轴(3)的表面固定安装有分隔板(4),分隔板(4)和分隔墙(2)的相对面均开设有插接槽,插接槽的内壁插设有插接板(5),分隔墙(2)和分隔板(4)的数量均为四个,四个分隔墙(2)和分隔板(4)将测试箱体(1)的内部分隔成四个区域,其中一个分隔墙(2)的表面固定安装有半导体制冷片(6),半导体制冷片(6)的冷端和热端分别位于两个相邻的区域,与半导体制冷片(6)冷端所在区域对立的区域内通过陶瓷柱固定安装有电发热棒(7),转轴(3)的固定连接有密封盖(8),密封盖(8)的上端开设有安装孔,安装孔的内壁螺纹连接有传感器本体(9),测试箱体(1)的正面固定安装有控制面板(10)。2.根据权利要求1所述的一种传感器的测试装置,其特征在于:所述密封盖(8)的上表面开设有阶梯槽,插接板(5)的表面与阶梯槽的内壁搭接,且插接板(5)和阶梯槽的数量均为四个,四个插接板(5)的上表面固定安装有连接环(11)。3.根据权利要求1所述的一种传感器的测试装置,其特征在于:所述测试箱体(1)的下表面固定安装有支撑腿(12),且支撑腿(12)的数量为四个,四个支撑腿(12)呈矩形阵列设置在测试箱体(1)的下表面。4.根据权利要求1所述的一种传感器的测试装置,其特征在于:所述半导体制冷片(6)热端所在区域的内底壁固定安装有散热风扇(13),且该区域的内壁开设有通风孔。5.根据权利要求1所述的一种传感器的测试装置,其特征在于:所述半导体制冷片(6)和电发热棒(7)均与控制面板(10)电性连接,控制面板(10)与外部电源电性连接。6.根据权利要求1所述的一种传感器的测试装置,其特征在于:所述半导体制冷片(6)的数量为三个,三个半导体制冷片(6)等距设置在分隔墙(2)的表面。

技术总结
本实用新型公开了一种传感器的测试装置,包括测试箱体,所述测试箱体的内侧壁固定安装有分隔墙,测试箱体的内底壁通过轴承转动连接有转轴,转轴的表面固定安装有分隔板,分隔板和分隔墙的相对面均开设有插接槽,插接槽的内壁插设有插接板,分隔墙和分隔板的数量均为四个,四个分隔墙和分隔板将测试箱体的内部分隔成四个区域,其中一个分隔墙的表面固定安装有半导体制冷片,半导体制冷片的冷端和热端分别位于两个相邻的区域。该传感器的测试装置,利用分隔墙和分隔板将测试箱体分隔成不同的区域,并在不同的区域内设置半导体制冷片和电发热棒,能够在测试箱体内营造低温和高温环境,在进行低温检测后,能够快速进行高温测试,提高了测试效率。高了测试效率。高了测试效率。


技术研发人员:牛海龙
受保护的技术使用者:合肥普联自动化仪表有限公司
技术研发日:2021.07.28
技术公布日:2022/3/8

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