1.本实用新型涉及产品检测技术领域,特别是涉及一种深度检测装置。
背景技术:
2.工业生产中,由于加工存在误差,产品加工完成后,通常会对产品的各项参数进行检测,以剔除不合格的产品。许多产品上会设置凹槽或者沉孔,在检测时,需要对产品的凹槽或者沉孔的深度进行检测。现有的深度检测装置一般是将千分表固定在一个固定架上,将产品装到定位治具,放到千分表下面,将千分表归零,将千分表的探测头抵接到凹槽内,读取千分表的数值。采用上述的装置和方法检测时间长,且由于产品之间存在误差,在检测过程中需要多次进行归零,在进行大批量的检测时,工作效率低。且在检测过程中,探测头找准检测面时也较为繁琐。
3.鉴于此,本领域的技术人员亟需一种新的深度检测装置,以解决现有的深度检测装置存在的技术问题,提高检测效率。
技术实现要素:
4.基于此,本实用新型提供一种深度检测装置,以提高检测效率。
5.本实用新型的深度检测装置,包括:
6.平台,所述平台上设有用于固定待测产品的固定部,所述待测产品具有待测孔;
7.设于所述平台上的表座,所述表座包括固定于所述平台上的第一主体部以及悬设于所述第一主体部的第二主体部,所述第二主体部中设有从上至下贯穿所述第二主体部的第一通孔,所述第一通孔位于所述固定部上方,所述第二主体部的侧壁上开设有连通所述第一通孔的通槽;
8.活动设于所述第一通孔中的调节组件,所述调节组件包括穿设于所述第一通孔的第一调节块、套设于所述第一调节块的外部的第二调节块以及一端与所述第二调节块固定连接的把手,所述把手的另一端穿设于所述通槽,所述第一调节块在所述第二调节块内运动;以及
9.设于所述调节组件上的检测组件,所述检测组件包括表主体、与所述表主体连接的第一连杆以及套设于所述第一连杆的外部的第二连杆,所述第一连杆与所述第一调节块固定连接,所述第二连杆分别与所述表主体和所述第二调节块固定连接,所述第一连杆在所述第二连杆内运动;
10.通过所述把手在所述通槽中运动以将所述第二调节块抬起,所述第二调节块带动所述第一调节块以及所述检测组件一起抬起,将所述待测产品固定于所述固定部上,移动所述把手以使所述第二调节块下降至与所述待测产品的表面抵接,所述第一调节块继续下降至与所述待测孔的底面抵接,同时所述第一连杆在所述第二连杆中发生相对运动,所述相对运动的距离为所述表主体的读数,读取所述表主体上的读数以获取所述待测孔的深度。
11.优选地,所述通槽包括与所述第一通孔的延伸方向相同的垂直部以及与所述垂直部垂直的水平部;所述把手在所述垂直部中上下运动以调节所述调节组件的高度,所述把手在所述水平部中水平运动以固定所述调节组件的高度。
12.优选地,所述第一通孔中设有第一限位结构,所述第二调节块的一端设有与所述第一限位结构相配合的第二限位结构。
13.优选地,所述第一调节块和所述第二调节块朝所述平台的一端的端面为平面结构。
14.优选地,所述第二调节块的外径大于所述待测孔的内径,所述第一调节块的外径小于所述待测孔的内径。
15.优选地,所述固定部为定位栓,所述待测产品设有与所述定位栓相配合的定位孔。
16.优选地,所述表主体为数显千分表或机械千分表。
17.优选地,所述第二调节块包括用于连接所述把手的第一固定孔以及位于所述第一固定孔的上方的第二固定孔。
18.优选地,所述第二固定孔内设有与一锁紧螺丝配合的内螺纹,所述第二固定孔与所述锁紧螺丝连接以固定所述第二调节块和所述第二连杆。
19.优选地,所述第一连杆与所述第一调节块连接的一端具有内螺纹孔,所述第一调节块的一端设有与所述内螺纹孔相配合的外螺纹部。
20.本实用新型的有益效果在于:本实用新型的深度检测装置通过调节组件与检测组件相互配合,在进行批量检测时,将待测产品放在固定部上,调节组件的第二调节块与待测产品表面抵接、第一调节块与待测孔的底面抵接,直接读取表主体上的数值即可得出待测孔的深度,无需多次校准,检测效率高。
附图说明
21.图1为本实用新型实施例的待测产品的立体结构示意图;
22.图2为本实用新型实施例的深度检测装置的立体结构示意图;
23.图3为本实用新型实施例的深度检测装置的爆炸结构示意图;
24.图4为本实用新型实施例的深度检测装置在校准状态下的立体结构示意图;
25.图5为本实用新型实施例的深度检测装置在放置待测产品状态下的立体结构示意图;
26.图6为本实用新型实施例的深度检测装置在检测状态下的立体结构示意图;
27.图7为本实用新型实施例的深度检测装置在检测状态下的侧视图;
28.图8为图7沿a-a向的剖视图。
29.附图中各标号的含义为:
30.深度检测装置-100;平台-10;固定部-11;表座-20;第一主体部-21;第二主体部-22;第一通孔-221;第一限位结构-2212;通槽-222;垂直部-2221;水平部-2222;调节组件-30;第一调节块-31;第四限位结构-311;第二调节块-32;第二限位结构-321;第三限位结构-322;第一固定孔323;第二固定孔-324;把手-33;锁紧螺丝-34;检测组件-40;表主体-41;第一连杆-42;第二连杆-43;待测产品-200;待测孔-201;定位孔-202。
具体实施方式
31.为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
32.需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
33.除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。
34.图1为本实用新型实施例的待测产品200的结构示意图,需要说明的是,该待测产品200仅是为了用于解释本实用新型的深度检测装置100的工作原理,并不包括在本实用新型实施例的结构内,待测产品200也可以有其他的形状,在此不作限定。待测产品200上具有待测孔201以及定位孔202。
35.图2为本实用新型实施例的深度检测装置100的立体结构示意图,图3为本实用新型实施例的深度检测装置100的爆炸结构示意图。请参见图2-图3,深度检测装置100包括:平台10、设于平台10上的表座20、调节组件30以及检测组件40。
36.进一步地,请参见图3,平台10上设有用于固定待测产品200的固定部11。具体地,固定部11为定位栓,定位栓有两个,待测产品200上的定位孔202与定位栓相配合。
37.表座20包括固定于平台10上的第一主体部21以及悬设于第一主体部21的第二主体部22。第二主体部22中设有从上至下贯穿第二主体部22的第一通孔221,即第一通孔221垂直设置。第一通孔221位于固定部11的上方,以确保检测时待测产品200位于第一通孔221正下方。第二主体部22的侧壁上开设有连通第一通孔221的通槽222,具体地,通槽222设置在远离第一主体部21的侧壁上。请重点参见图5,通槽222包括与第一通孔221延伸方向相同的垂直部2221以及与垂直部2221垂直的水平部2222。
38.请重点参见图3,调节组件30活动设于第一通孔221中。调节组件30包括穿设于第一通孔221中的第一调节块31、套设于第一调节块31外部的第二调节块32以及与第二调节块32固定连接的把手33。具体地,第二调节块32可在第一通孔221中作上下直线运动和水平旋转运动,第一调节块31可在第二调节块32内相对第二调节块32作上下直线运动。把手33的一端固定连接第二调节块32,把手33的另一端穿设于通槽222。请参见图4-图6,把手33在通槽222的垂直部2221中上下运动以调节检测组件40的高度,把手33在水平部2222中水平旋转运动时可固定调节组件30在当前的高度。进一步地,第一调节块31和第二调节块32朝平台10的一端的端面为平面结构,便于更好地进行校准和检测。请重点参见图6-图8,进行检测时,第二调节块32与待测产品200的表面抵接,第一调节块31与待测孔201的底部抵接,第一调节块31和第二调节块32的高度差即为待测孔201的深度。更进一步地,第二调节块32的外径大于待测产品200的待测孔201的内径,第一调节块31的外径小于待测孔201的内径,通过这种设置保证第二调节块32与待测产品200的表面抵接,第一调节块31与待测孔201的底部抵接。
39.请再参见图3,检测组件40设于调节组件30上,具体设于调节组件30的顶部。检测组件40包括表主体41、与表主体41连接的第一连杆42以及套设于第一连杆42外部的第二连杆43。其中,请参见图6,第一连杆42与第一调节块31固定连接,具体地,第一连杆42与第一调节块31连接的一端具有内螺纹孔,第一调节块31的一端设有与内螺纹孔相配合的外螺纹部,第一连杆42和第一调节块31螺纹连接。第二连杆43的分别与表主体41和第二调节块32固定连接。第一连杆42可在第二连杆43内作上下直线运动,表主体41可以直接读取第一连杆42相对第二连杆43的运动距离,表主体41的读数即为第一连杆42相对第二连杆43的运动距离。检测时,第一调节块31和第二调节块32的相对运动距离为高度差,此高度差即为待测孔201的深度。由于第一连杆42与第一调节块31固定连接、第二连杆43与第二调节块32固定连接,所以第一调节块31和第二调节块32的相对运动距离等于第一连杆42和第二连杆43的相对运动距离。也就是说,第一连杆42和第二连杆43的相对运动距离等于第一调节块31和第二调节块32的高度差。即第一连杆42和第二连杆43的相对运动距离等于待测孔201的深度,通过读取表主体41的数值即可得到待测孔201的深度。
40.进一步地,请参见图8,第一通孔221中设有第一限位结构2212,第二调节块32的一端设有与第一限位结构2212相配合的第二限位结构321。通过第一限位结构2212和第二限位结构321的配合,防止调节组件30在组装或者移动的过程中掉落。进一步地,第二调节块32内壁还设有第三限位结构322,第一调节块31的一端设有与第三限位结构322相匹配的第四限位结构311。通过第三限位结构322和第四限位结构311的配合,使整个深度检测装置100配合更加稳固。
41.进一步地,本实用新型实施例的检测组件40的表主体41为数显千分表或机械千分表。
42.进一步地,请参见图3,第二调节块32上设有用于连接把手33的第一固定孔323和位于第一固定孔323上方的第二固定孔324。其中,第二固定孔324具有内螺纹,第二固定孔324与锁紧螺丝34连接以固定第二调节块32和第二连杆43。
43.请参见图4-图6,本实用新型实施例的深度检测装置100的工作流程分为校准、放置待测产品200以及检测三个步骤,具体如下:
44.校准步骤:请重点参见图4,将把手33移动至通槽222的垂直部2221,调节组件30在重力的作用下降至与平台10抵接,检测组件40随调节组件30下降。此时,第一调节块31和第二调节块32的端面与平台10抵接,处于同一高度,高度差为0,将表主体41的数值归零,完成校准归零。
45.放置待测产品200步骤:请重点参见图5,通过把手33在通槽222的垂直部2221中向上运动将第二调节块32抬起,第二调节块32带动第一调节块31和检测组件40一起抬起;抬到垂直部2221的最大高度时,将把手33在通槽222的水平部2222向右拨动限制把手33不会下降;将待测产品200固定在固定部11上。
46.检测步骤:请重点参见图6,将把手33拨到垂直部2221,第二调节块32下降至与待测产品200的表面抵接,第一调节块31下降至与待测孔201的底面抵接,此时第一调节块31和第二调节块32产生高度差,同时第一连杆42在第二连杆43中也会相对运动;直接读取表主体41的读数,得到待测孔201的深度,完成检测。
47.进行下一次检测时,重复放置待测产品200和检测步骤即可,更换待测产品200无
需再次校准归零。
48.本实用新型的深度检测装置100通过调节组件30与检测组件40相互配合,在进行批量检测时,将待测产品200放在固定部11上,调节组件30的第二调节块32与待测产品200表面抵接、第一调节块31与待测孔201的底面抵接,直接读取表主体41上的数值即可得出待测孔201的深度,无需多次校准,检测效率高。
49.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
50.以上实施例仅表达了本实用新型的优选的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。