一种随机测试方法、装置、设备及存储介质与流程

1.本发明涉及器件测试技术领域，更具体地说，涉及一种随机测试方法、装置、设备及存储介质。


背景技术：

2.在需要对flash实现测试时，通常都需要对flash中各地址值对应位置进行相应的遍历测试，导致测试时间较长，测试效率较差。


技术实现要素：

3.本发明的目的是提供一种随机测试方法、装置、设备及存储介质，能够有效减少测试时间，提高测试效率。
4.为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
5.一种随机测试方法，包括：
6.确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；
7.确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；
8.判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。
9.优选的，获取多个随机地址值包括：
10.基于所述待测试芯片的地址位宽确定需要获取的随机地址值的数量，并获取相应数量的随机地址值。
11.优选的，在获取到多个随机地址值之后，还包括：
12.将获取到的多个随机地址值全部加入至预设的地址列表中，以在确定当前地址值时从所述地址列表中提取相应随机地址值作为当前地址值。
13.优选的，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试，包括：
14.在所述待测试芯片中从当前地址值开始进行子扇或整扇的擦除，并在擦除完成后从当前地址值开始进行擦除的子扇或整扇的读取，如果读取的数据为擦除后应具有的数据，则确定擦除成功，否则，确定擦除未成功。
15.优选的，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内基于当前随机数实现写入及读取的测试，包括：
16.在所述待测试芯片中从当前地址值开始将当前随机数以页编程的方式写入，并在写入完成后读取从当前地址值开始的页，如果读取到的数据为当前随机数，则确定写入及读取成功，否则，确定写入及读取未成功。
17.优选的，获取多个随机地址值包括：
18.确定所述待测试芯片中需测试的地址区域，并获取属于所述地址区域内的多个随机地址值。
19.优选的，确定完成对所述待测试芯片的随机测试之后，还包括：
20.将对各随机地址值对应区域内实现测试所得的测试结果均输出。
21.一种随机测试装置，包括：
22.确定模块，用于：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；
23.测试模块，用于：确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；
24.判断模块，用于：判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。
25.一种随机测试设备，包括：
26.存储器，用于存储计算机程序；
27.处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一项所述随机测试方法的步骤。
28.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述随机测试方法的步骤。
29.本发明提供了一种随机测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。本技术对于需要测试的存储芯片，可以获取多个随机地址值，并针对每个随机地址值均产生相应的随机数据后，对存储芯片内相应随机地址值对应位置所属的区域进行擦除的测试、基于随机数据实现写入及读取的测试，从而实现对存储芯片中多个随机位置对应区域的测试，不同于对存储芯片中各位置的遍历测试，从而能够有效减少测试时间，提高测试效率。
附图说明
30.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
31.图1为本发明实施例提供的一种随机测试方法的流程图；
32.图2为本发明实施例提供的一种随机测试装置的结构示意图。
具体实施方式
33.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
34.请参阅图1，其示出了本发明实施例提供的一种随机测试方法的流程图，具体可以包括：
35.s11：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值。
36.存储芯片可以为flash，也可以为其他需要测试的具有存储功能的芯片，均在本发明的保护范围之内。在确定出当前需要测试的存储芯片后，可以先随机获取多个地址值，也即为随机地址值，进而基于这多个随机地址值对当前需要测试的存储芯片进行随机测试。其中，存储芯片中包含有存储区域，存储区域内各位置均具有相应的地址值，因此本技术实施例基于多个随机地址值实现相应存储芯片的测试，也即为对存储芯片中多个随机的位置进行测试，以此代替现有技术中对存储芯片内各位置遍历进行测试的方式。
37.s12：确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果。
38.对于获取的多个随机地址值中的任意随机地址值，可以先产生随机数据作为对该任意随机地址值实现相应测试的测试用数据，然后对待测试芯片中与该任意随机地址值对应的位置所属区域进行擦除的测试、利用产生的该随机数据实现写入以及读取的测试，并得到相应的测试结果；进而在实现对待测试芯片中全部随机地址值分别对应的位置所属区域的测试后，得到全部随机地址值分别对应的测试结果，这些测试结果则为对待测试芯片进行测试的结果。另外，对存储芯片的擦除、写入及读取的测试原理可以与现有技术中对应方案的实现原理相同，也可以根据实际需要进行其他设置，均在本发明的保护范围之内。
39.s13：判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对待测试芯片的随机测试。
40.本技术对于需要测试的存储芯片，可以获取多个随机地址值，并针对每个随机地址值均产生相应的随机数据后，对存储芯片内相应随机地址值对应位置所属的区域进行擦除的测试、基于随机数据进行写入及读取的测试，从而实现对存储芯片中多个随机位置对应区域的测试，不同于对存储芯片中各位置的遍历测试，从而能够有效减少测试时间，提高测试效率。
41.本发明实施例提供的一种随机测试方法，获取多个随机地址值可以包括：
42.基于待测试芯片的地址位宽确定需要获取的随机地址值的数量，并获取相应数量的随机地址值。
43.需要说明的是，本技术实施例可以基于存储芯片的地址位宽确定需要获取的随机地址值的数量，进而获取相应数量的随机地址值，并对随机地址值对应位置所属区域实现相应的存储测试；在具体实现方式中可以设置随机地址值的数量与存储芯片的地址位宽相同，且不同地址值表现为地址线0、1的不同组合，读写数据也是存储的数据在0和1之间的改写，本技术实施例中每个随机地址值中只有一位地址线翻转为1，其余为0，从而通过这种方式覆盖所有地址线的翻转情况，达到抽取地址快速实现相应测试的目的。以存储芯片为
flash进行具体说明，flash的地址空间范围是根据地址位宽确定的，最大地址范围空间是2的指数次幂，指数为地址位宽，如常见的3byte、4byte地址空间，位宽为24位或32位，则地址空间范围为0～2^24＝16,777,216，0～2^32＝4,294,967,296，对如此大的地址空间进行擦除、写入及读取测试的遍历操作，并且擦除时间为百毫秒级，难以较快的完成测试任务；本技术实施例中仅取与地址位宽相同个数的随机地址值实现相应位置所属区域的擦除、写入及读取测试，不仅能够覆盖所有地址线的翻转情况，还能够实现降维抽样测试，从而有效提高测试任务的执行时间。
44.另外，在获取到多个随机地址值之后，还可以包括：将获取到的多个随机地址值全部加入至预设的地址列表中，以在确定当前地址值时从地址列表中提取相应随机地址值作为当前地址值。具体来说，为了便于实现随机地址值的遍历，本技术实施例可以将获取到的随机地址值均加入至预先设置的地址列表中，进而在每次实现测试时则从地址列表中随机抽取一个地址值作为当前地址值，进而基于该当前地址值实现相应的测试，从而能够快速方便的针对各随机地址值实现相应的测试。
45.本发明实施例提供的一种随机测试方法，在待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试，可以包括：
46.在待测试芯片中从当前地址值开始进行子扇或整扇的擦除，并在擦除完成后从当前地址值开始进行擦除的子扇或整扇的读取，如果读取的数据为擦除后应具有的数据，则确定擦除成功，否则，确定擦除未成功。
47.在待测试芯片中与当前地址值对应的区域内基于当前随机数实现写入及读取的测试，可以包括：
48.在待测试芯片中从当前地址值开始将当前随机数以页编程的方式写入，并在写入完成后读取从当前地址值开始的页，如果读取到的数据为当前随机数，则确定写入及读取成功，否则，确定写入及读取未成功。
49.本技术实施例对相应随机地址值对应区域实现擦除、基于随机数据实现写入及读取的测试，可以从当前地址值开始进行子扇或者整扇擦除，并在擦除完成后从当前地址值开始进行相应子扇或者整扇的读取，如果读取到的数据全部为擦除后应具有的数据(如1)，则说明擦除成功，否则说明擦除不成功；并且将相应随机数据以页编程的方式从当前地址值开始写入至存储芯片中，在写入完成后再从当前地址值开始读取一整页，将读取的数据与之前写入的数据进行对比，两者一致则说明读写成功，否则说明读写不成功；如果擦除、读写均成功，则说明对存储芯片的测试通过，否则说明测试未通过。以存储芯片为flash进行具体说明，通过特定的程序或者方式可以擦除、写入及读取数据，擦除flash即为修改存储芯片内的存储值，以将其中的二进制值均修改为1，而写入和读写即为将特定的二进制值写入到flash内部、读取flash内部存储的二进制值；子扇空间范围可以为4kb，整扇空间范围可以为64kb，页编程是从某一地址开始连续写入256byte，页读取是从某一地址开始连续读取256byte。
50.本发明实施例提供的一种随机测试方法，获取多个随机地址值可以包括：
51.确定待测试芯片中需测试的地址区域，并获取属于地址区域内的多个随机地址值。
52.为了针对性测试存储芯片内某一地址范围，从而使得存储芯片的测试更加灵活，
本技术实施例可以对地址范围进行约束，进而获取在该地址范围内的多个随机地址值，并基于该多个随机地址值实现该地址范围内擦除、写入及读取的随机测试。
53.另外，确定完成对待测试芯片的随机测试之后，还可以包括：将对各随机地址值对应区域内实现测试所得的测试结果均输出。具体来说，可以直接将各测试结果均输出，还可以将基于这些测试结果确定对存储芯片的测试是否通过，并将对存储芯片的测试是否通过这一信息输出，从而使得相应人员或者模块等及时获知存储芯片的测试情况。其中，基于各测试结果确定对存储芯片的测试是否通过，可以是如果各测试结果表示相应擦除、写入及读取均成功，则说明对存储芯片的测试通过，否则说明对测试芯片的测试未通过。当然根据实际需要设置的其他输出方式也均在本发明保护范围之内。
54.在一种具体方式中，本发明实施例提供的一种随机测试方法可以包括：
55.1：根据flash地址位宽，确定抽样的随机地址值个数，地址位宽的值即为随机地址值个数；每一个随机地址值只有一位地址线翻转为1、其余为0，并将随机地址值均加入至地址列表中，每次随机测试的地址值从这个随机地址值列表中选取；
56.2：从1步中的地址列表中随机抽取一个随机地址值，并产生写入flash的随机数据；
57.3：每次随机测试中，从抽取的随机地址值开始进行子扇或整扇擦除，擦除完成后，从抽取的随机地址值开始读取，读取数据为全1，即为擦除成功，否则擦除不成功；
58.4：在3步擦除之后，将产生的随机数据以页编程的方式从抽取的随机地址值开始写入flash中，写入完成后，再从抽取的随机地址值读取一整页，与写入的数据进行对比，结果一致则验证该地址读写正确，否则读写不正确；
59.5：重复2～4步执行多次的随机测试，保证每个随机地址值均被抽样测试过，即覆盖了所有地址线的翻转情况，达到抽取地址快速测试读写的目的。
60.本技术采用对存储芯片地址线的翻转值的随机抽取，并产生写入的随机数据，在大地址范围空间进行存储芯片的操作，包括擦除，写入和读取。通过这种地址抽样测试的方法，验证了地址线的翻转、存储值的翻转等，从而达到快速降维测试存储芯片的目的，缩短大地址范围空间存储芯片操作测试的时间，达到对存储芯片的操作快速验证的目的。对于特定地址空间，也可采用约束地址范围并对特定地址范围遍历随机测试的目的。
61.本发明实施例还提供了一种随机测试装置，如图2所示，可以包括：
62.确定模块11，用于：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；
63.测试模块12，用于：确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；
64.判断模块13，用于：判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对待测试芯片的随机测试。
65.本发明实施例提供的一种随机测试装置，确定模块可以包括：
66.第一获取单元，用于：基于待测试芯片的地址位宽确定需要获取的随机地址值的数量，并获取相应数量的随机地址值。
67.本发明实施例提供的一种随机测试装置，还可以包括：
68.加入模块，用于：在获取到多个随机地址值之后，将获取到的多个随机地址值全部加入至预设的地址列表中，以在确定当前地址值时从地址列表中提取相应随机地址值作为当前地址值。
69.本发明实施例提供的一种随机测试装置，测试模块可以包括：
70.第一测试单元，用于：在待测试芯片中从当前地址值开始进行子扇或整扇的擦除，并在擦除完成后从当前地址值开始进行擦除的子扇或整扇的读取，如果读取的数据为擦除后应具有的数据，则确定擦除成功，否则，确定擦除未成功；
71.第二测试单元，用于：在待测试芯片中从当前地址值开始将当前随机数以页编程的方式写入，并在写入完成后读取从当前地址值开始的页，如果读取到的数据为当前随机数，则确定写入及读取成功，否则，确定写入及读取未成功。
72.本发明实施例提供的一种随机测试装置，确定模块可以包括：
73.第二获取单元，用于：确定待测试芯片中需测试的地址区域，并获取属于地址区域内的多个随机地址值。
74.本发明实施例提供的一种随机测试装置，还可以包括：
75.输出模块，用于：确定完成对待测试芯片的随机测试之后，将对各随机地址值对应区域内实现测试所得的测试结果均输出。
76.本发明实施例还提供了一种随机测试设备，可以包括：
77.存储器，用于存储计算机程序；
78.处理器，用于执行计算机程序时实现如上任一项随机测试方法的步骤。
79.本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可以实现如上任一项随机测试方法的步骤。
80.需要说明的是，本发明实施例提供的一种随机测试装置、设备及存储介质中相关部分的说明请参见本发明实施例提供的一种随机测试方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外本发明实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
81.对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

技术特征：
1.一种随机测试方法，其特征在于，包括：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取多个随机地址值包括：基于所述待测试芯片的地址位宽确定需要获取的随机地址值的数量，并获取相应数量的随机地址值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在获取到多个随机地址值之后，还包括：将获取到的多个随机地址值全部加入至预设的地址列表中，以在确定当前地址值时从所述地址列表中提取相应随机地址值作为当前地址值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试，包括：在所述待测试芯片中从当前地址值开始进行子扇或整扇的擦除，并在擦除完成后从当前地址值开始进行擦除的子扇或整扇的读取，如果读取的数据为擦除后应具有的数据，则确定擦除成功，否则，确定擦除未成功。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内基于当前随机数实现写入及读取的测试，包括：在所述待测试芯片中从当前地址值开始将当前随机数以页编程的方式写入，并在写入完成后读取从当前地址值开始的页，如果读取到的数据为当前随机数，则确定写入及读取成功，否则，确定写入及读取未成功。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取多个随机地址值包括：确定所述待测试芯片中需测试的地址区域，并获取属于所述地址区域内的多个随机地址值。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，确定完成对所述待测试芯片的随机测试之后，还包括：将对各随机地址值对应区域内实现测试所得的测试结果均输出。8.一种随机测试装置，其特征在于，包括：确定模块，用于：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；测试模块，用于：确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；判断模块，用于：判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。9.一种随机测试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述随机测试方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述随机测试方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种随机测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：确定需测试的存储芯片为待测试芯片，获取多个随机地址值；确定任意的随机地址值为当前地址值，产生随机数据为当前随机数，在所述待测试芯片中与当前地址值对应的区域内实现擦除的测试、基于当前随机数实现写入及读取的测试，得到相应的测试结果；判断是否存在未作为当前地址值的随机地址值，如果是，则确定未作为当前地址值的任意随机地址值为当前地址值，执行产生随机数据为当前随机数的步骤，否则，确定完成对所述待测试芯片的随机测试。本申请实现对存储芯片中多个随机位置对应区域的测试，不同于对存储芯片中各位置的遍历测试，从而能够有效减少测试时间，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。


技术研发人员：王向科 王朝辉 刘凯
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：2021.11.25
技术公布日：2022/3/8